Occasion KLA / TENCOR 7700M Surfscan #293604335 à vendre en France

KLA/TENCOR 7700M Surfscan est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de pointe utilisé dans l'industrie de la fabrication et des semi-conducteurs. Le système fournit des capacités de test et de mesure de plaquettes non destructives telles que l'imagerie haute résolution, l'analyse de surface, l'analyse transversale et 3D, la caractérisation électrique sans contact et les mesures de superposition. Le Surfscan 7700M offre une imagerie haute résolution, permettant d'identifier des structures, des films et des défauts extrêmement fins, ce qui facilite l'analyse et la vérification des structures des appareils, des processus de fabrication et des performances des appareils. Avec une résolution de 5µm et une caméra intégrée de 5 mégapixels, l'unité peut acquérir des images détaillées de l'ensemble de la plaquette à des vitesses allant jusqu'à 12 fps. Il offre également l'acquisition simultanée d'un maximum de 10 fonctionnalités grâce à sa fonction de détection multifonctions (MFP). Le Surfscan 7700M fournit une analyse de surface des plaquettes, permettant d'identifier et de quantifier la rugosité de surface, la contamination, les défauts et la structure des grains pour une variété de substrats. Sa fonction d'analyse des particules permet de cartographier la contamination et la distribution des particules sur n'importe quelle surface. Il dispose également d'un mode de topographie 3D, qui permet des capacités de profilage de profondeur et de fonctionnalités pour identifier les défauts et les caractéristiques critiques. La machine offre une caractérisation électrique sans contact des plaquettes, ce qui permet de caractériser les propriétés électriques des circuits intégrés ou autres dispositifs. Son outil de mesure de la longueur de transfert (TL) mesure la longueur de la ligne de transmission à travers un dispositif, tandis que ses caractéristiques de sortie mesurent les caractéristiques de sortie d'un dispositif. Il fournit également des mesures de recouvrement IC, qui permettent de déterminer l'alignement de recouvrement des dispositifs IC dans le processus de production. KLA 7700M Surfscan est un modèle avancé de test et de métrologie de plaquettes qui offre une imagerie haute résolution, une analyse de surface, une analyse transversale et 3D, une caractérisation électrique sans contact et des mesures de superposition. Avec ses capacités, il peut être utilisé pour aider à la production et la vérification d'une variété de dispositifs et d'applications de plaquettes.