Occasion KLA / TENCOR 7700M Surfscan #293626887 à vendre en France

KLA/TENCOR 7700M Surfscan est un équipement avancé d'essai et de métrologie de plaquettes pour la fabrication de semi-conducteurs. Ce système utilise un microscope de projection à balayage à courte longueur d'onde muni d'une caméra CCD pour mesurer le profil d'une surface de l'appareil avec une précision sous-nanométrique. L'unité fournit une imagerie à grande vitesse des topographies de plaquettes à divers agrandissements et une imagerie à haute résolution de structures extrêmement petites. Il est capable de détecter des caractéristiques, de piquer des images et de mesurer des superpositions complexes pour un alignement précis. KLA 7700M Surfscan offre à l'utilisateur une plateforme intuitive d'interface graphique avec un large éventail de capacités avancées. Il permet d'ajuster facilement les paramètres de vue et de mesure, de suivre les progrès et d'examiner les données acquises en tracant des graphiques, des images et des tableaux. Le 7700M présente également une multitude d'améliorations technologiques en métrologie, telles que la correction d'inclinaison de Focus, la machine d'alignement automatique et l'imagerie multi-spectrale, afin d'assurer des résultats de qualité supérieure. TENCOR 7700M Surfscan est capable de mesurer les tailles et les identifications des fonctionnalités, ainsi que la planéité, la rugosité de surface et les analyses de rugosité de contour. En outre, il est très précis et précis dans la détection et l'alignement des bords, ce qui en fait le choix parfait pour des applications de métrologie précises. L'outil est également extrêmement polyvalent, offrant aux utilisateurs la possibilité de connecter plusieurs systèmes pour créer un outil de manutention de plaquettes entièrement automatisé. Ce modèle automatisé unique peut tester et mesurer plusieurs plaquettes simultanément pour augmenter considérablement le débit. 7700M L'équipement de Surfscan fournit un ensemble complet d'outils pour l'analyse et le contrôle statistique des processus, avec des mesures pour l'utilisation en ligne et hors ligne, y compris la caractérisation de la puissance de production, l'uniformité de l'épaisseur locale, et le marquage rapide de la matrice. KLA/TENCOR 7700M Surfscan est un système de test et de métrologie avancé qui offre à l'utilisateur une précision extrême et des capacités d'analyse de pointe. Il est capable d'imagerie rapide, de détection de fonctionnalités haute résolution, de détection de bord et de mesures de superposition complexes, ce qui en fait le choix idéal pour des applications de précision de haute qualité. L'utilisateur peut connecter plusieurs systèmes pour créer une unité de traitement entièrement automatisée des plaquettes, permettant un débit accru et un contrôle statistique complet des processus. Au total, KLA 7700M Surfscan est un outil précieux pour toute installation de fabrication de semi-conducteurs.