Occasion KLA / TENCOR 7700M Surfscan #293793013 à vendre en France

KLA/TENCOR 7700M Surfscan est un équipement de pointe d'essai et de métrologie de plaquettes pour les défauts d'application et le contrôle des processus dans la fabrication de semi-conducteurs. Il est idéal pour les noeuds technologiques avancés tels que 7 nm, 10 nm et 12 nm et les matériaux aussi variés que le poly-silicium, l'Arsenide de Gallium et le germanium. Au cœur du 7700M se trouve son système de mesure optique unique et puissant, qui utilise le strobe et l'éclairage standard pour capturer des images détaillées de n'importe quelle surface, même des surfaces gravement déformées. Son grossissement 5x et sa faible gamme de levés de +/- 25 μ m permettent de caractériser avec précision des caractéristiques minuscules telles que les motifs de protrusion sur les puces, et sa métrique de qualité intégrée lui permet de signaler tout appareil ne répondant pas aux spécifications attendues. En plus de l'imagerie, le 7700M dispose d'une étape puissante et d'une unité de métrologie répétée qui permet la cartographie automatisée des caractéristiques sur une plaquette. Il utilise l'optique avancée et l'imagerie dynamique de contraste de tension (DVCI) pour quantifier la profondeur, le rayon et les profils d'angle de flanc avec une précision inégalée, même sur des surfaces déformées. Sa résolution de 7nm, associée à son étage 2 axes avancé, permet de cartographier l'ensemble de la plaquette avec une grande précision et une grande vitesse. Le 7700M dispose également d'une variété d'autres outils pour assurer la qualité et le contrôle des processus. Ses capacités de localisation rapide et précise, de séquençage et de révision des motifs lui permettent de détecter rapidement les défauts et d'identifier rapidement les solutions. Sa capacité de reconfiguration entièrement automatisée des machines permet également aux utilisateurs de ré-étalonner rapidement et facilement, ce qui le rend bien adapté à une variété d'exigences complexes. Enfin, le 7700M est conçu pour des processus de contamination ultra bas, et est conforme aux normes les plus strictes de l'industrie. Ses filtres optiques de haute précision, ses étages de portage d'air et son environnement ultra pur permettent aux utilisateurs de travailler avec les dernières technologies sans craindre de faux résultats ou de contamination. Au total, KLA 7700M Surfscan est un outil de test et de métrologie de plaquettes extrêmement puissant et fiable, et ses caractéristiques robustes et ses performances élevées en font la solution idéale pour les nœuds de processus avancés et les matériaux variés.