Occasion KLA / TENCOR 8250 T #9191936 à vendre en France

KLA/TENCOR 8250 T est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour la caractérisation avancée des plaquettes semi-conductrices. Ce système utilise une technologie automatisée d'inspection de surface connue sous le nom d'imagerie « 8K » pour détecter les défauts de la surface supérieure et des parois latérales des plaquettes avec une grande précision et sensibilité. Il offre également la plus haute résolution disponible et le rapport signal sur bruit, et est capable de détecter des défauts très mineurs avec le même niveau de précision élevé. Il peut également détecter une grande variété de types de défauts, y compris des protubérances, des fosses et des irrégularités de marquage, ainsi que l'analyse de caractéristiques complexes et tridimensionnelles. KLA 8250 T dispose d'une grande zone d'inspection automatisée des plaquettes 8K capable de manipuler des substrats jusqu'à 86mm. L'unité est équipée d'un spectromètre d'imagerie avancé pour les analyses automatisées des surfaces des plaquettes. Ce spectromètre utilise une source lumineuse de longueur d'onde comprise entre 400 et 40 nanomètres (nm) et peut accéder à une large gamme de conditions d'imagerie incluant divers rayonnements subvisibles, visibles et ultraviolets. De plus, cette machine est équipée d'un outil de focalisation automatisé pour maximiser le rapport signal sur bruit et minimiser les erreurs. En plus de l'inspection de surface automatisée, cet actif de test de plaquettes comprend également une gamme complète de capacités de métrologie et de caractérisation. Son modèle de métrologie de haute précision peut mesurer l'épaisseur des films et des couches, ainsi que surveiller la chaîne de wafer et assurer une uniformité absolue. L'équipement peut également mesurer et contrôler la profondeur de gravure et la topographie des plaquettes avec une précision supérieure. De plus, ce système est capable d'effectuer un balayage laser haute résolution pour générer des cartes 3D de surfaces de plaquettes avec des résolutions à l'échelle du nanomètre. Dans l'ensemble, l'unité de test et de métrologie TENCOR 8250 T est le choix idéal pour l'analyse avancée des plaquettes semi-conductrices. Sa technologie d'inspection de surface automatisée 8K garantit la plus grande précision et la plus grande sensibilité pour détecter les défauts dans les plaquettes. En outre, il peut effectuer une variété d'applications de métrologie telles que la mesure de l'épaisseur des couches, la surveillance de la chaîne de wafer, et effectuer un balayage laser haute résolution. Toutes ces caractéristiques font de 8250 T un choix optimal pour des tests de plaquettes avancés et des besoins de métrologie.