Occasion KLA / TENCOR 8250 #293799671 à vendre en France

KLA / TENCOR 8250
ID: 293799671
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
KLA/TENCOR 8250 est un puissant équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour fournir des performances élevées, des tests fiables et une métrologie précise des plaquettes dans l'industrie des semi-conducteurs. Ce système combine des caractéristiques d'imagerie et d'optique avec des capacités de métrologie étendues, telles que l'examen automatisé des données de métrologie des plaquettes et la personnalisation des critères et des limites de spécification. L'unité se compose de quatre composants : KLA 8250 Mainframe, Wafer Handler, Vision Machine, et Thin Film Processor. TENCOR 8250 Mainframe est le moteur derrière l'outil, contrôlant le fonctionnement des autres systèmes et fournissant l'analyse des données des résultats. Le Wafer Handler est un actif automatisé qui inspecte, transporte et positionne les wafers dans la chambre de métrologie pour inspection. Le modèle de vision comprend une série de caméras qui capturent des images de la plaquette en utilisant différents angles pour la surveillance précise. Enfin, le processeur à couche mince localise et mesure indépendamment les défauts sur les surfaces de l'appareil. 8250 équipements sont équipés d'une gamme d'outils de métrologie sophistiqués, y compris l'inspection optique, la microscopie confocale pour l'imagerie 3D, et l'effort déposé (« FEL ») capable de mesurer les paramètres des couches minces. La FEL permet de mesurer l'épaisseur et l'uniformité du film et d'estimer la concentration des éléments dans les couches du dispositif. De plus, le système peut mesurer simultanément jusqu'à soixante caractéristiques, dont la topographie, le dépôt de couches minces, la panne électrique et les caractéristiques de mobilité électrique. Pour répondre davantage aux besoins du processus de fabrication, l'unité a la capacité de personnaliser les limites de spécification et les critères d'essai. Cela permet une analyse efficace et fiable des données. La machine est également compatible avec le logiciel de base de données pour entrer des données de qualité dans des formats de fichiers définis par le client. KLA/TENCOR 8250 offre une technologie inégalée pour l'essai de plaquettes et la métrologie. Sa vaste gamme de capacités, ses outils de métrologie avancés, sa personnalisation et sa compatibilité logicielle en font un incontournable dans l'industrie des semi-conducteurs. Avec sa technologie sophistiquée, KLA 8250 est un outil très précis et fiable pour garantir des performances cohérentes de l'appareil pendant la production.
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