Occasion KLA / TENCOR 8450 #9316172 à vendre en France

KLA/TENCOR 8450 est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe. Il est conçu pour répondre aux exigences exigeantes des industries des semi-conducteurs et des MEMS pour les essais précis et la métrologie des plaquettes. Le système combine une variété d'options et de fonctionnalités pour fournir des capacités de mesure et d'analyse de haute précision. La KLA 8450 offre des capacités d'inspection multi-capteurs, haute vitesse, précision et essais minimalement intrusifs. Il utilise des capteurs optiques et mécaniques intégrés pour garantir des résultats très précis. Les optiques à fort grossissement permettent une imagerie claire de la surface de la plaquette. L'unité est conçue pour fournir des capacités de traitement d'image puissantes, permettant l'analyse automatisée des données et la comparaison de la surface de la plaquette dans le temps. TENCOR 8450 utilise une machine d'imagerie autodidacte, ultra-sensible et polyvalente pour mesurer diverses caractéristiques de la surface des plaquettes. L'outil est configurable avec plusieurs méthodes de balayage telles que la moyenne de zone, la moyenne de ligne, ou le balayage à un seul point. Il peut mesurer à la fois la topologie simple et complexe, permettant une analyse détaillée des grandes plaquettes. L'actif fournit également une cartographie automatisée de la surface de la plaquette pour une comparaison facile ou une comparaison avec des critères spécifiés. 8450 a un modèle d'auto-échantillonnage breveté intégré. Cette caractéristique garantit que les plaquettes sont testées uniformément dans n'importe quel ordre. L'équipement est conçu avec une variété de contrôles personnalisables, permettant à l'utilisateur d'optimiser le processus de test. KLA/TENCOR 8450 offre également une large gamme de fonctions d'acquisition, d'analyse et de télécommande de données. Les options d'acquisition de données comprennent le dimensionnement automatisé et semi-automatisé des plaquettes, la rugosité de surface et le profilage de contour. Les capacités d'analyse comprennent les mesures globales de courbure de la surface de la plaquette, les angles de mouillage et l'analyse des défauts. Le système offre également une gamme de fonctions de contrôle semi-automatique et automatisé. KLA 8450 est conçu pour fournir des capacités complètes d'essai et de métrologie pour une variété de exigences de semi-conducteurs et de MEMS. Ses capacités et ses caractéristiques fournissent des résultats précis et fiables, ce qui en fait un choix idéal pour les tests au niveau des plaquettes. L'unité peut être intégrée à d'autres équipements d'essais complets et de métrologie. Ses contrôles conviviaux et ses processus automatisés facilitent le fonctionnement et l'entretien de la machine.