Occasion KLA / TENCOR 9000 Surfscan #293621532 à vendre en France

ID: 293621532
Style Vintage: 2003
Inspection system 2003 vintage.
KLA/TENCOR 9000 Surfscan est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe conçu pour évaluer les caractéristiques critiques d'une large gamme de dispositifs semi-conducteurs. Le système Surfscan offre de puissantes capacités de détection automatisée des défauts, fournissant des données rapides, fiables et précises. L'unité dispose d'un centre de contrôle de la métrologie et d'une puissante machine de métrologie optique, qui est capable de mesurer des caractéristiques allant de 0,25 micron à 1 micron. L'outil de métrologie est composé d'un actif de balayage laser avec une caméra numérique et un processeur de signal optique numérique 12 bits. Cette combinaison permet au modèle de capturer et de mesurer avec précision la taille et la forme de divers défauts, ainsi que d'identifier le type de défaut. L'équipement de Surfscan est équipé d'une variété de techniques automatisées de détection des défauts. Il s'agit notamment de la corrélation spatiale, de la corrélation dynamique et des techniques de reconnaissance des motifs. Le système dispose de capacités d'imagerie avancées, y compris l'imagerie dépendante de la longueur d'onde et l'imagerie de super résolution. Cela permet d'examiner des caractéristiques de niveau supérieur, telles que des trous de contact et des mini-grilles. L'unité Surfscan dispose également de capacités intégrées de visualisation des données, permettant à l'utilisateur d'identifier, d'interpréter et d'analyser rapidement tout défaut potentiel. L'interface utilisateur est très intuitive, permettant aux opérateurs de comprendre rapidement et facilement les résultats de leurs inspections. En outre, le logiciel de la machine est conçu pour extraire et interpréter les données obtenues de l'outil de métrologie, ce qui permet de tirer des conclusions significatives des résultats. KLA 9000 Surfscan est un outil efficace et fiable pour examiner et tester les dispositifs semi-conducteurs. Ses capacités de métrologie avancées et sa suite de techniques automatisées de détection des défauts permettent à l'actif d'évaluer avec précision et rapidité la qualité et l'intégrité d'une gamme de différents appareils. Cela en fait un outil inestimable pour ceux qui développent, fabriquent et testent ces dispositifs.
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