Occasion KLA / TENCOR Acrotec 6020 #293607188 à vendre en France

ID: 293607188
Style Vintage: 1999
Inspection system PC HDD 1999 vintage.
KLA/TENCOR Acrotec 6020 est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe. Il combine un large éventail de capacités de métrologie avancées et des options logicielles puissantes pour fournir une plate-forme pour améliorer le contrôle des processus et obtenir des informations critiques sur les paramètres limitant les rendements. Il fournit des mesures précises et répétables avec un minimum d'intervention de l'opérateur, une manipulation robuste des plaquettes et un alignement et une inspection automatisés. Ce système offre une combinaison d'outils d'imagerie à champ lumineux, à champ sombre et à éclairage laser, superposés sur des étages 5 axes pour une manipulation précise des plaquettes sous différents angles. Grâce à des techniques laser et autofocus accordables de précision, KLA Acrotec 6020 est capable de mesurer l'épaisseur et le profil des couches à couches minces et à oxydation thermique. Il utilise les dernières technologies d'imagerie et de traitement du signal, une analyse spectrale multidimensionnelle et un ensemble d'algorithmes sophistiqués pour fournir des capacités de reconnaissance de motifs de pointe dans l'industrie. Avec sa configuration matérielle entièrement configurable, TENCOR 6020 propose des mesures automatisées sans contact de nombreux matériaux et procédés différents. Il est conçu pour mesurer des paramètres tels que des largeurs de lignes, des angles de facettes, des profondeurs de gravure, et bien plus encore sur des plaquettes semi-conductrices de différentes tailles. L'unité est également capable de manipuler les mesures les plus difficiles, telles que l'analyse de cibles à faible contraste et la géométrie complexe de la structure. En outre, cette machine utilise des outils avancés de détection de défauts, tels que des algorithmes avancés d'appariement de motifs, pour identifier et caractériser les défauts qui peuvent causer une perte de rendement. Ses algorithmes statistiques de contrôle des processus permettent de détecter rapidement la dérive des processus, ainsi que de meilleures décisions concernant les rendements des produits. Acrotec 6020 est un outil puissant et précis de test de plaquettes et de métrologie qui fournit des données fiables et des résultats reproductibles. Ses capacités d'imagerie et de mesure optiques avancées, associées à des algorithmes logiciels sophistiqués, lui permettent de mesurer une variété de matériaux et de processus avec un haut degré de précision. Avec sa capacité à mesurer un large éventail de paramètres et sa capacité supérieure de détection de défauts, KLA/TENCOR 6020 est un outil essentiel pour optimiser la performance des procédés, améliorer le rendement et contrôler les coûts dans l'industrie des semi-conducteurs hautement compétitive d'aujourd'hui.
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