Occasion KLA / TENCOR Acrotec 6020 #9292406 à vendre en France

KLA/TENCOR Acrotec 6020 est un système avancé d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour effectuer des inspections et des évaluations de défauts de haute précision. Grâce à sa technologie de numérisation et d'imagerie automatisées, il offre la résolution et la précision les plus élevées requises pour la fabrication moderne de plaquettes et de substrats. Son système automatisé de balayage des plaquettes détecte, caractérise et enregistre avec précision des défauts allant de la taille des particules aux micro-particules à la surface d'une plaquette. Avec son mode avancé de détection des défauts OptiGauge qui utilise l'échantillonnage sectoriel, il peut détecter et analyser différents types de revêtements de protection, y compris les revêtements de résistance et de barrière. L'interface conviviale et l'affichage graphique, combinés à des statistiques automatisées et à des analyses statistiques, créent un environnement facile à utiliser pour la mesure et l'évaluation statistiquement contrôlées. KLA Acrotec 6020 dispose d'un positionnement de plaquettes de haute précision ; réponse rapide à la détection des bords de la plaquette ; une capacité de balayage en plein champ ; capacités d'interpolation d'images avancées pour optimiser la qualité de l'image ; et des algorithmes d'imagerie avancés pour la détection et l'analyse des défauts de haute précision. Ses capacités d'alignement et de parage des plaquettes, conçues pour répondre aux exigences de résolution les plus élevées de l'industrie, assurent un positionnement optimal et un alignement de précision de la plaquette pour des mesures uniformes. TENCOR 6020 est alimenté par la dernière technologie de métrologie et d'inspection des plaquettes. Il est équipé de plusieurs modes d'imagerie automatisés, dont un mode d'analyse focale pour l'imagerie 3D des plaquettes, un mode d'analyse par défaut et un mode d'analyse du moniteur. Le moniteur de focalisation prend des images dans une orientation hélicoïdale, fournissant une vue à 360 degrés de la surface. Le module d'analyse d'image d'Acrotec 6020 comprend une variété de fonctions de mesure, de classification et d'analyse qui permettent aux utilisateurs de trouver et d'évaluer facilement les centres de défauts. TENCOR Acrotec 6020 est soutenu par une suite complète de logiciels de test de plaquettes et de métrologie incluant OASIS, PATRIOT et CORAIS. Le logiciel OASIS permet des tests précis de collage, de stress et de contamination, tandis que l'application PATRIOT offre un contrôle statistique des processus pour des mesures de wafer de haute précision. Le module CORAIS prend en charge l'imagerie multicouche et la cartographie des contraintes, offrant une reconnaissance et un signalement fiables des défauts. Le système d'essai et de métrologie polyvalent et économique KLA 6020 offre les niveaux les plus élevés d'efficacité et d'exactitude de l'inspection et de l'évaluation des défauts des plaquettes. Grâce à sa technologie de numérisation et d'imagerie automatisées, il offre l'inspection et l'analyse des plaquettes les plus approfondies et précises disponibles sur le marché.