Occasion KLA / TENCOR AIT Fusion XUV #9250962 à vendre en France

KLA/TENCOR AIT Fusion XUV est un système de test et de métrologie avancé conçu pour fournir des résultats précis et précis avec une efficacité maximale. Le système combine deux instruments essentiels : un SEM de métrologie (Scanning Electron Microscope) et un outil d'inspection des plaquettes. Le Metrology SEM offre des capacités d'imagerie ultra haute résolution et d'essais sous-superficiels non destructifs. Ceci permet aux utilisateurs d'effectuer des mesures détaillées de micro-analyse et de métrologie de la surface de la plaquette. Le Wafer Inspection Tool utilise une technique de diffusion des rayons X, qui fournit des mesures rapides et sensibles de la surface de la plaquette semi-conductrice. De plus, le Fusion XUV peut être équipé d'une grande variété de fixations personnalisées et de mouvements de scène. La Fusion XUV possède de nombreuses caractéristiques qui en font une solution idéale de test de plaquettes. Il propose des algorithmes avancés qui facilitent des mesures et des analyses précises, ainsi qu'une imagerie haute résolution qui fournit des résultats rapides et fiables. En outre, son étalonnage fiable fournit des résultats précis, même lors de tests d'une grande variété de types de plaquettes. Dans l'ensemble, KLA AIT Fusion XUV fournit une solution puissante et fiable pour les essais de plaquettes et la métrologie. Sa combinaison d'outils avancés d'imagerie et de métrologie lui confère des capacités exceptionnelles d'analyse détaillée et de mesures précises. En outre, il est convivial et offre des résultats fiables, même lorsqu'il s'agit de surfaces de plaquettes très complexes. La Fusion XUV offre également des délais d'exécution supérieurs à ceux des autres solutions d'essai, ce qui en fait un excellent choix pour les industries et les laboratoires de recherche à rythme rapide.