Occasion KLA / TENCOR AIT II #293585798 à vendre en France

KLA/TENCOR AIT II est un équipement avancé d'essai de plaquettes et de métrologie pour les fabricants de semi-conducteurs IC. Le système offre des mesures de haute précision pour la caractérisation de paramètres clés électriques, optiques et géométriques, permettant d'optimiser le processus de développement et de fabrication. KLA AIT II offre une variété de plates-formes pour l'essai de plaquettes et la métrologie. Sa plateforme intégrée de métrologie utilise des technologies optiques brevetées pour obtenir des mesures précises et répétables d'une gamme de tailles de caractéristiques, ainsi que des mesures de profil et d'image. Cette plate-forme recueille des informations essentielles, telles que la longueur de ligne, les mesures d'espace et de hauteur des interconnexions et des contacts, ainsi que des cartes de données, pour soutenir l'optimisation rapide des processus. L'unité offre également la capacité d'analyser les données de profil et d'image en trois dimensions, permettant une compréhension complète des structures complexes des appareils. L'outil de test électrique unique de la machine fournit des mesures de circuits intégrés haute fréquence, numériques et analogiques, ainsi qu'un large éventail de disciplines et offre une capacité de test flexible et à grande vitesse. Cet atout fournit également une interface pour un large éventail d'instruments de caractérisation, des testeurs de lignes à retard électriques aux analyseurs de réseau vectoriel. TENCOR AIT II offre également une métrologie intégrée complète pour l'inspection et l'assemblage, avec une variété d'optiques pour la mesure, l'inspection et la caractérisation des substrats, des emballages et des cartes. Il offre des capacités de mesure tridimensionnelles de haute précision pour l'analyse de l'épaisseur du film et des micro-défauts, ainsi que pour l'inspection des structures micro-collées. Le modèle offre également une solution complète de gestion des données pour la collecte, le stockage, la récupération et la notification efficaces des mesures. La base de données peut soutenir plusieurs stratégies de test et générer automatiquement des rapports pour améliorer les renseignements commerciaux. L'AIT II est une solution puissante pour des essais de plaquettes ultérieurs non destructifs, offrant des capacités de mesure de haute précision équipées de technologies de pointe et de solutions de base de données intégrées, ce qui le rend idéal pour répondre aux exigences des fabricants de semi-conducteurs d'aujourd'hui.