Occasion KLA / TENCOR AIT II #293595222 à vendre en France

KLA/TENCOR AIT II est un équipement de mesure et de métrologie automatisé de pointe conçu pour l'industrie des semi-conducteurs. Ce système supporte différents types de plaquettes dont 205, 300 et 450 mm. Il offre des mesures fiables et précises sur un large éventail de paramètres, y compris les dimensions critiques (CD), l'épaisseur du film, la profondeur de gravure, l'épaisseur de l'oxyde et la surveillance de la planarisation chimique et mécanique (CMP). L'unité utilise une combinaison de technologies d'imagerie optique, de scatterométrie et de métrologie pour mesurer avec précision les structures semi-conductrices complexes. La machine est intégrée avec des algorithmes avancés de traitement du signal, des solutions de reconnaissance de motifs pilotées par les données et un apprentissage machine avancé. Grâce à ces technologies, il fournit rapidement des données plus précises et plus complètes que les mesures manuelles. L'outil est également intégré à une gamme complète d'outils logiciels et d'outils d'analyse de données, permettant aux utilisateurs d'évaluer rapidement les processus critiques et les mesures de qualité. KLA AIT II propose également des solutions de test à haut débit précises et fiables. Il a des capacités de ligne de vision réglable (LOS) et d'angle d'incidence (AOI), permettant aux utilisateurs d'optimiser leurs mesures de CD. L'actif est également capable d'identifier les caractéristiques difficiles à discerner et les défauts à la surface de la plaquette, y compris les particules, les débris et la décoloration. Cela permet de réduire le risque de désalignements et d'inexactitudes pouvant entraîner des pertes de rendement. Avec son architecture modulaire et évolutive, TENCOR AIT II offre une solution de test efficace et rentable, du développement de processus à la production. Il offre des capacités de prise en charge à distance, ainsi que des interfaces conviviales personnalisables pour un fonctionnement et une maintenance faciles. Il est également équipé d'une vaste gamme de plates-formes, dont DfX, SPC, Advanced Process Control (APC) et plus encore. AIT II est un modèle innovant et puissant d'essai de plaquettes et de métrologie. Il a été conçu pour offrir des solutions fiables, précises et rentables à l'industrie des semi-conducteurs. Les algorithmes avancés de traitement du signal de l'équipement, les solutions de reconnaissance de motifs pilotées par les données et les capacités sophistiquées d'apprentissage automatique permettent d'assurer des mesures précises et un contrôle de qualité supérieur. De plus, son architecture flexible, ses options de personnalisation et ses fonctionnalités d'assistance à distance aident à fournir une solution de test efficace et rentable.