Occasion KLA / TENCOR AIT II #9249021 à vendre en France

KLA/TENCOR AIT II est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe de KLA Corp. conçu pour les fabricants de semi-conducteurs et les organismes de recherche. KLA AIT II intègre plusieurs plates-formes de détection, fournissant des tests de plaquettes sur place et de la métrologie avec un système compact. Cette unité fournit des données de métrologie automatisées, précises et reproductibles pour un contrôle avancé des processus, et permet des essais, une caractérisation et une analyse complètes des plaquettes de semi-conducteur. TENCOR AIT II est doté d'une série de technologies de pointe, y compris des réticules intégrés (pour l'alignement optique et la définition des bords critiques des plaquettes), des systèmes d'imagerie multiples (y compris la microscopie directe et réfléchie et les caméras à couplage de charge), des profilomètres optiques sans contact, des systèmes de positionnement automatisés et précis des échantillons, des capacités d'imagerie spectrale pour la cartographie des plaquettes et des systèmes automatisés. AIT II offre des performances inégalées avec des capacités avancées telles que les tests automatisés, la visualisation en temps réel, l'analyse complète des données et l'intégration de plusieurs systèmes d'imagerie. La machine dispose d'algorithmes logiciels intégrés qui permettent un traitement et une analyse complets des données, y compris la détection automatisée des défauts. La capacité de métrologie de surface en temps réel permet d'obtenir des résultats de métrologie précis et reproductibles, permettant des essais de plaquettes plus rapides et une qualification de haute précision. En outre, KLA/TENCOR AIT II dispose de modules d'imagerie et de mesure interchangeables, permettant une configuration flexible pour différentes applications. L'outil est particulièrement adapté aux besoins de production à petite échelle ou aux initiatives de développement de processus, ainsi qu'aux opérations industrielles Fab à grande échelle. KLA AIT II est un puissant actif de test et de métrologie de plaquettes qui permet à la fabrication de semi-conducteurs d'obtenir une précision et un contrôle de la qualité accrus, une meilleure efficacité et des rendements améliorés. Ses technologies de pointe fournissent des tests complets, automatisés, précis et reproductibles pour la qualification des plaquettes, permettant une métrologie de haute précision et une optimisation des processus basée sur les données. Avec sa configuration polyvalente et sa répétabilité assurée, TENCOR AIT II offre une solution idéale pour les utilisateurs industriels et de recherche.