Occasion KLA / TENCOR AIT II #9377284 à vendre en France

KLA / TENCOR AIT II
ID: 9377284
Taille de la plaquette: 8"
Defect Measurement system, 8".
KLA/TENCOR AIT II (Advanced Inspection Tool) est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour inspecter et analyser rapidement les défauts sur les grandes plaquettes. Il fournit une solution très fiable pour s'assurer que les plaquettes sont traitées correctement et ne contiennent aucun défaut. KLA AIT II se compose d'un puissant système automatisé avec un détecteur de rayons X qui permet d'inspecter une plaquette entière de 300mm en seulement 15 secondes avec une précision ultra-élevée. L'unité peut détecter des particules étrangères et natives, avec une sensibilité comparable aux méthodes les plus avancées utilisées par l'industrie des semi-conducteurs. Grâce à l'imagerie photographique, la machine est capable d'identifier, de mesurer et d'analyser des défauts de très petite taille. Le logiciel de l'outil est configurable pour inspecter jusqu'à 20 types de défauts différents, et peut être calibré à des niveaux de précision aussi bas que 1 nanomètre. Afin d'assurer une grande précision, l'actif de métrologie des plaquettes de TENCOR AIT II utilise une combinaison de techniques optiques standard et de diffraction laser. Ce modèle de métrologie avancé permet des mesures rapides et précises des défauts, et est capable de détecter même les plus petits défauts. L'équipement dispose également d'une large gamme de caractéristiques conçues pour améliorer la précision et l'efficacité. Ces caractéristiques comprennent un système automatisé de détection des défauts, une archive d'inspection des défauts, des données sur le contour des particules, un générateur de séquences d'inspection des défauts, une interface d'opérateur et des outils de post-traitement des images. L'UCK a également développé une gamme d'options matérielles et logicielles qui permettent aux utilisateurs d'adapter l'unité à leurs besoins spécifiques. Parmi ces options, on peut citer l'ajout d'un microscope haute résolution, d'un détecteur collimaté de troisième génération et d'une machine d'étalonnage automatique. En plus de ses caractéristiques impressionnantes, AIT II est l'un des systèmes de test et de métrologie de plaquettes les plus conviviaux. Il dispose d'une interface conviviale et est livré avec une documentation complète pour aider les utilisateurs à configurer et à exploiter leurs systèmes rapidement et avec précision. En résumé, KLA/TENCOR AIT II est un outil puissant et fiable d'essai et de métrologie des plaquettes qui peut fournir une solution rapide, précise et rentable à un large éventail de besoins d'inspection et d'analyse des plaquettes.
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