Occasion KLA / TENCOR AIT III #293711267 à vendre en France

KLA/TENCOR AIT III est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour la production de dispositifs semi-conducteurs. Le système permet une variété de mesures de haute précision, allant des tests électriques sur plaquette, des tests optiques et thermiques, ainsi que le repérage de défauts spécifiques sur une surface de plaquette. KLA AIT III est très capable à la fois de faire face aux exigences élevées des lignes de production et de détecter rapidement tout problème lié aux processus. Il peut manipuler des plaquettes jusqu'à 200 mm avec un débit allant jusqu'à plusieurs centaines de plaquettes par heure, à plein essai. L'unité est conçue pour éviter des retravaillements coûteux et identifier et quantifier rapidement tout type de problèmes liés aux processus. TENCOR AIT III est capable de fournir des tests en ligne et hors ligne. Il est capable d'imagerie couleur, de comptage des particules, d'analyse des rendements die-by-die, de filage, de recherche de défauts optiques et électriques, de test d'uniformité des plaquettes et de mesures de la rugosité des bords de ligne. Il est également capable de tester du niveau de la plaquette jusqu'au niveau de la puce. L'AIT III est alimenté par un logiciel Autofocus unique, qui permet une reconnaissance rapide de l'appareil, même aux débits élevés de données difficiles requis pour les tests en production de volume élevé. Il dispose également d'une machine DSP programmable flash, qui permet une analyse complète en temps réel et la surveillance des processus. Par exemple, l'outil peut surveiller tout problème de reconnaissance de motifs ou de rendement au cours du processus. Globalement, KLA/TENCOR AIT III est un outil puissant pour la production de dispositifs semi-conducteurs. Il fournit une multitude de mesures précises et peut être utilisé à la fois en ligne et hors ligne. Son logiciel unique Autofocus, combiné à son puissant atout DSP, le rend inestimable pour la production et le test d'appareils.