Occasion KLA / TENCOR AIT III #293815979 à vendre en France

ID: 293815979
Defect inspection system.
KLA/TENCOR AIT III est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de pointe conçu pour fournir des résultats d'inspection rapides et précis pour l'industrie des semi-conducteurs. Le système offre des capacités d'analyse 2D et 3D, permettant aux utilisateurs d'analyser des plaquettes avec une variété de paramètres tels que la rugosité de surface, l'épaisseur du film et la densité de défauts. KLA AIT III est équipé d'une chambre d'inspection hautement sensible avec des composants d'imagerie optique planaires et mobiles, une analyse spectroscopique et une suite logicielle complète avec de nombreux algorithmes prédéfinis. Cela permet aux utilisateurs de personnaliser et d'optimiser leurs paramètres de test pour correspondre à leurs exigences de processus spécifiques. L'unité dispose de vitesses de balayage élevées et jusqu'à trois fois plus rapides que les méthodes traditionnelles. Ces vitesses élevées permettent aux utilisateurs d'identifier et de mesurer rapidement les tailles de fonctionnalités critiques et les signatures défectueuses. La machine a également un design optique puissant avec de multiples options de lentilles et de capteurs pour garantir des résultats optimaux. La suite logicielle offre diverses options de traitement et d'analyse d'images, y compris la cartographie des couleurs, le contrôle de la phase de couleur, l'amélioration du contraste et le filtre spatial. Ces caractéristiques permettent aux utilisateurs de caractériser avec précision les plaquettes et de détecter et résoudre rapidement les défauts qui peuvent affecter la qualité du produit. L'outil dispose également d'une protection des données sécurisée, avec un actif d'inspection autonome sécurisé qui peut être configuré en toute sécurité et accessible via une connexion IP sécurisée. Cela empêche les données de quitter l'installation et garantit que tous les résultats de l'inspection sont protégés contre les acteurs malveillants. En outre, le modèle est facilement intégré à d'autres systèmes d'analyse et dispose de ressources d'apprentissage et de formation en ligne à distance à l'UCK. Cela garantit que les utilisateurs ont toujours accès aux informations les plus récentes et pertinentes pour leurs processus spécifiques. TENCOR AIT III est un équipement puissant et riche en fonctionnalités d'essai de plaquettes et de métrologie qui permet aux utilisateurs d'analyser rapidement et avec précision leurs plaquettes et d'identifier et de traiter tout problème pouvant affecter la qualité des produits. Avec sa suite logicielle robuste et ses capacités d'analyse à grande vitesse, le système est un excellent choix pour toute installation semi-conductrice moderne.
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