Occasion KLA / TENCOR AIT UV #9083786 à vendre en France

KLA/TENCOR AIT UV est un équipement innovant d'essai de plaquettes et de métrologie qui permet la collecte, l'analyse et la déclaration de données critiques de défauts en temps réel. Le système offre des inspections automatisées avancées des plaquettes semi-conductrices et est idéal pour la détection et la mesure des micro-structures. KLA AIT UV est une machine puissante qui combine le test des plaquettes, la métrologie, le contrôle en ligne et la mesure des défauts en une seule unité. Il utilise des technologies de pointe d'optique et de balayage pour vérifier et mesurer les surfaces des plaquettes. Sa machine automatisée fournit des mesures rapides et fiables avec une grande précision, et peut inspecter des films individuels, des films composés de plusieurs couches, et des surfaces de plaquettes structurées. La technologie de balayage optique unique de l'outil et les capacités automatisées de reconnaissance et de sélection des défauts permettent de détecter et de mesurer les défauts avec des informations de taille, de forme et de localisation. Ces informations peuvent ensuite être utilisées pour suivre l'évolution des plaquettes dans la production afin de maximiser le rendement. De plus, TENCOR AIT-UV comprend un logiciel qui permet à l'utilisateur de personnaliser les processus de mesure de l'actif. Ce logiciel facilite le choix des paramètres pour l'inspection et la mesure des défauts, et permet une comparaison aisée des informations et données passées et présentes sur les plaquettes. KLA/TENCOR AIT-UV est également livré avec un ensemble complet de capacités de rapport. Cela comprend une analyse détaillée des résultats de l'inspection et de la métrologie, ainsi qu'un large éventail de formats de rapport pour permettre à l'utilisateur final de fournir l'information dont il a besoin, lorsqu'il en a besoin. Dans l'ensemble, TENCOR AIT UV est un modèle avancé d'essai de plaquettes et de métrologie qui offre une combinaison de numérisation optiquement avancée et de reconnaissance automatisée des défauts. Il fournit une grande précision et des mesures fiables pour obtenir un rendement maximal dans la production de plaquettes semi-conductrices. En outre, l'équipement comprend des logiciels personnalisés et des capacités de rapport pour la commodité de l'utilisateur.