Occasion KLA / TENCOR AIT UV #9099586 à vendre en France

KLA/TENCOR AIT UV est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes qui utilise des sources lumineuses ultraviolettes (UV) pour inspecter et analyser des plaquettes à semi-conducteurs. Ce système est utilisé dans la fabrication de composants électroniques tels que circuits intégrés, puces à mémoire et transistors. L'unité de test utilise un grand module de caractérisation spécialement conçu pour inspecter et évaluer les propriétés physiques et optiques de l'échantillon. La machine KLA AIT UV utilise des sources de lumière UV adaptées à la gamme de plaquettes fabriquées. La source lumineuse est ensuite utilisée en combinaison avec un ensemble d'instrumentation très précis. Les instruments mesurent des paramètres tels que l'épaisseur, la résistivité des feuilles, la topographie de surface, la contamination, la réflectivité et les concentrations de dopage. L'ensemble d'instrumentation permet également de mesurer les propriétés optiques des échantillons tels que le coefficient d'extinction, la transmittance totale, la réflectance et l'absorbance. L'outil est construit avec un atout avancé d'imagerie optique pour mesurer la résolution des structures et des caractéristiques de l'appareil, et est capable de fournir des images haute résolution. Le modèle est en outre équipé de photodétecteurs à haute sensibilité et de dispositifs d'acquisition d'images pour capturer les images nécessaires. Un microscope UV spécial est conçu dans l'équipement pour faciliter la mesure et le positionnement précis des structures et des caractéristiques de l'appareil. Le microscope est capable de scanner plusieurs champs de vue jusqu'à une profondeur de 25 microns. TENCOR AIT-UV wafer testing and metrology system est également capable de caractériser une variété de types d'échantillons. L'unité peut mesurer les propriétés optiques des revêtements, des verres et des diélectriques. Il est également équipé d'une machine d'imagerie de pointe qui permet de mesurer les caractéristiques amplitude-fréquence submicroniques des structures de surface de l'échantillon. Enfin, l'outil est intégré à un logiciel avancé pour capturer, analyser et rapporter les résultats de mesure rapidement et avec précision. Le logiciel dispose d'une interface utilisateur intuitive, qui permet aux utilisateurs de surveiller les mesures en temps réel et de gérer les données de test. Des outils de traitement et d'analyse des données peuvent également être utilisés pour l'analyse prédictive et avancée de la qualité. En conclusion, l'AIT-UV est un outil complet d'essai et de métrologie des plaquettes qui utilise des sources lumineuses ultraviolettes pour évaluer rapidement et avec précision les propriétés physiques et optiques de l'échantillon. Il est équipé d'une série d'instruments avancés, de systèmes d'imagerie et de logiciels permettant de caractériser de manière fiable les échantillons et de recueillir des données de mesure pour une analyse prédictive et avancée de la qualité.