Occasion KLA / TENCOR AIT UV #9161154 à vendre en France

KLA/TENCOR AIT UV est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes hautement spécialisé conçu pour inspecter et mesurer les caractéristiques critiques des plaquettes semi-conductrices. Ce système de test de plaquettes est équipé de sources laser ultraviolets et d'optique avancée pour permettre des inspections rapides, précises et fiables des surfaces de plaquettes. L'unité AIT UV de l'UCK comprend deux sous-systèmes principaux : une source laser UV à quatre ports et une machine à balayer automatisée. La source laser UV à quatre ports fournit un éclairage temps réel personnalisé de la plaquette, qui peut être utilisé pour évaluer la topographie de la surface de la plaquette. L'outil de balayage automatisé déplace ensuite la source laser à travers la surface de la plaquette pour mesurer avec précision les caractéristiques critiques. L'outil d'imagerie utilise une caméra à couplage de charge (CCD) hautement sensible pour capturer des images de la surface de la plaquette. Ces données sont ensuite traitées avec des algorithmes propriétaires pour mesurer précisément la hauteur, la taille et la forme des caractéristiques trouvées sur les plaquettes. Le modèle AIT-UV de TENCOR est certifié avec plusieurs protocoles standard de l'industrie, dont TALYS (Test Automation Language for Yield Systems), une méthode de métrologie des plaquettes largement utilisée. Cela donne aux utilisateurs la certitude que l'équipement mesurera avec précision les caractéristiques critiques, qui sont essentielles à la poursuite du développement et de la fabrication des circuits intégrés. Le système AIT UV fournit également des capacités de déclaration avancées, qui peuvent fournir des données détaillées sur les mesures de la plaquette, et les résultats peuvent être traités et partagés en toute sécurité sur Internet. Cela garantit que les ingénieurs de processus et les autres employés peuvent accéder à l'information la plus à jour, peu importe leur emplacement. TENCOR AIT UV est un outil précieux pour l'essai de plaquettes et la métrologie, et peut fournir des mesures rapides, précises et détaillées des caractéristiques critiques trouvées sur les plaquettes semi-conductrices. Cette technologie peut fournir des informations importantes qui peuvent aider les ingénieurs à assurer la fiabilité des produits et à améliorer le processus de production.