Occasion KLA / TENCOR AIT XP #9047332 à vendre en France

KLA/TENCOR AIT XP est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de classe mondiale conçu pour fournir des mesures très fiables et précises de la géométrie et de la topographie des plaquettes. Le système est une unité intégrée conçue pour combiner précision d'essai, vitesse d'essai et programmabilité. Il dispose de technologies avancées telles que le chargement automatisé des sondes, le matériel d'autosurveillance et les algorithmes avancés pour aider à atteindre le plus haut niveau de performance. Utilisant la dernière architecture de machine intégrée, KLA AIT XP comprend un outil optique haute résolution pour l'inspection litho, un microscope à balayage tunnel (STM), et un microscope électronique à balayage (SEM). Cette architecture d'actifs intégrée fournit une plate-forme unique pour la métrologie et les essais sur plaquettes. L'amélioration de la précision et de la répétabilité des mesures du modèle par rapport aux autres systèmes disponibles sur le marché sont des avantages clés. Le TENCOR AIT-XP intégré est une unité modulaire à base de systèmes sur puce (SOC) qui comprend un réseau de diodes à diodes laser pour améliorer la précision, le rapport signal sur bruit et le débit. Cet équipement dispose également d'un moteur de mesure de haute précision, qui est intégré dans l'architecture du système pour fournir des mesures rapides, fiables et répétables. La fonctionnalité optionnelle d'alignement automatique des plaquettes de l'instrument permet à l'appareil de détecter et de corriger les désalignements avec la plus grande précision. Cela aide à fournir des mesures fiables et répétables, tout en économisant du temps et en réduisant les erreurs dues à l'intervention humaine. La gamme complète de logiciels de KLA AIT-XP offre aux utilisateurs un haut degré de flexibilité et de facilité d'utilisation. Cela inclut la configuration de logiciels de mesure pré-configurés et la configuration à la demande d'une gamme d'applications allant de la métrologie de wafer à la génération de modèles de test. La machine dispose d'une interface utilisateur graphique conviviale (interface graphique) avec des capacités de contrôle en temps réel et d'affichage des données. L'interface graphique comprend également des capacités de personnalisation et d'analyse pour les utilisateurs avancés. L'outil comprend un outil de saisie et de stockage de données performant, qui permet d'assurer l'exactitude et la sécurité des données pour tout test et processus. Cela comprend le traitement de la saisie des données, la gestion des bases de données sur les défauts et la traçabilité intégrée. KLA/TENCOR AIT-XP fournit une solution unique pour des applications telles que la métrologie des plaquettes, la génération de modèles de test, la détection des défauts, et la revue et l'analyse. Il est conçu pour répondre à de multiples exigences d'essai et de mesure tout en fournissant des mesures précises, rapides, fiables et répétables.