Occasion KLA / TENCOR AIT XP #9122532 à vendre en France
Il semble que cet article a déjà été vendu. Consultez les produits similaires ci-dessous ou contactez-nous et notre équipe expérimentée le trouvera pour vous.
Appuyez sur pour zoomer


Vendu
ID: 9122532
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 2000
Wafer inspection system, 8"
Part number: 564249
2000 vintage.
KLA/TENCOR AIT XP est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes très avancé conçu pour fournir des données de métrologie fiables et précises pour l'amélioration des processus et des produits. Au cœur de KLA AIT XP est un système d'étage de plaquettes avec une capacité intégrée de RockSolid™autofocus et d'alignement qui assure la précision et la répétabilité des mesures. Un mouvement de balayage Z à double axe permet des mouvements souples lors du balayage et élimine le désalignement et la distorsion. Cette technologie de pointe offre également une flexibilité avec des étapes facultatives pour des exigences avancées telles que la haute température, la basse température, et les applications cryogéniques. L'unité d'inspection et de métrologie des plaquettes est équipée d'une machine d'inspection avancée composée d'une technologie d'imagerie spectrale ultra-rapide comprenant des techniques d'éclairage avancées, un éclairage structuré et d'autres techniques pour détecter les défauts. Cet outil est complété par des algorithmes rapides d'analyse d'image avancée et un post-traitement robuste pour mesurer automatiquement un spectre de défauts pour des tests de haute précision. Le logiciel SpectraSouce™ Suite permet des mesures à l'échelle nanométrique en temps réel des défauts, fournissant une suite complète pour le contrôle avancé des processus. L'actif de métrologie de pointe intègre également une gamme complète de technologies pour le faisceau électronique, la dimension critique (CD), la superposition, et d'autres mesures de métrologie. Cela inclut des mécanismes de faisceau d'électrons, des configurations d'étages et une conception qui supporte un balayage rapide avec précision et faible bruit. Le logiciel de pointe Suite offre des mesures complètes telles que CD, superposition, largeur de ligne, rugosité de surface et mesures de profil avec des capacités de post-traitement algorithmique avancées. Pour la lithographie et le contrôle avancé des processus, le modèle TENCOR AIT-XP est en outre équipé d'un équipement avancé d'imagerie hors axe qui supporte une gamme de conditions d'imagerie et de configurations d'ouverture. En outre, le système intègre des capacités d'analyse de données haut de gamme et des méthodes intuitives de reconnaissance des motifs ainsi que des capacités de déclaration personnalisables. Pour garantir la confiance des utilisateurs, l'unité AIT-XP est rigoureusement testée et inspectée selon des normes strictes de qualité et de fiabilité. La machine est également agrémentée d'un support technique complet pour l'installation et l'utilisation. Grâce à cela, les utilisateurs peuvent s'attendre à un meilleur débit et rendement, à une réduction des coûts de ferraille et de garantie et à un contrôle optimisé des processus.
Il n'y a pas encore de critiques