Occasion KLA / TENCOR AIT XP #9204139 à vendre en France

KLA/TENCOR AIT XP est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes très avancé et leader dans l'industrie. Il s'agit d'un système d'observation complet pour l'analyse de processus et de rendement des plaquettes semi-conductrices. Il est équipé d'une optique avancée, d'une analyse d'image et d'un outillage d'annulation des vibrations. Cela en fait le choix pour les mesures optiques de haute précision et l'analyse précise des plaquettes. KLA AIT XP est équipé de fonctions d'éclairage avancées, telles qu'une unité d'éclairage LED couplée à une zone et un illuminateur LED multi-bandes, pour fournir un éclairage lumineux et uniforme de l'échantillon. Cela permet une meilleure définition des bords et un meilleur contraste, ce qui réduit la dégradation de la qualité de l'image dans des conditions de température et d'environnement variables. TENCOR AIT-XP utilise également des optiques zoomiques puissantes pour la reconstruction de l'optique et de la résolution d'image, offrant une meilleure précision de mesure. TENCOR AIT XP dispose d'un large éventail de capacités spécialisées pour l'analyse de processus et de rendement. Il fournit des algorithmes avancés de métrologie CD (CDM) et de point d'échec (POF) pour détecter les comportements anormaux dans le processus et repérer les zones de perte de rendement. Il a aussi des capacités de Carte de Foyer et de Carte de Scanner de quantifier le foyer les points de référence semi-3D spécifiques tels que l'exactitude de profondeur et pour le non-contact profilometry. De plus, AIT-XP est entièrement intégré avec les modules de tête d'inspection KLA et TENCOR (IHM) permettant la neutralité de l'interface avec une variété de modules IHM pour donner aux utilisateurs des options d'intégration flexibles et faciles. KLA AIT-XP est équipé d'un outil puissant d'annulation des vibrations, qui offre une répétabilité supérieure en métrologie et minimise l'influence des vibrations sur les outils de métrologie. Cette machine assure également un contrôle de la température, permettant un environnement optimal pour la mesure des échantillons et optimisant la répétabilité. De plus, KLA/TENCOR AIT-XP est disponible avec l'environnement d'automatisation autonome de la bibliothèque PathFinder KLA/TENCOR. Ceci fournit une suite complète d'outils d'automatisation, y compris des outils complets d'interface graphique utilisateur (UI) et une interface de programmation d'application (API) robuste. L'outil AIT XP wafer testing and metrology est un atout puissant et riche en fonctionnalités pour l'analyse de processus et de rendement des wafers semi-conducteurs. De l'éclairage et de l'optique avancés aux puissantes interfaces graphiques et aux environnements d'automatisation, ce modèle offre une gamme complète de capacités très avancées pour des tests et des analyses fiables et reproductibles.