Occasion KLA / TENCOR AIT XP #9236719 à vendre en France

KLA/TENCOR AIT XP est une suite de solutions d'essais de plaquettes et de métrologie conçues pour permettre aux fabricants de recueillir des données critiques sur l'état de leur produit. Il est conçu pour fournir des essais et une métrologie à la fois économiques et précis pour les dispositifs semi-conducteurs et d'autres composants connexes. KLA AIT XP offre une large gamme de technologies de pointe, allant de l'inspection optique à l'utilisation avancée des défauts de niveau de grille. L'inspection optique est utilisée pour vérifier rapidement la qualité, la taille et la forme des pièces mobiles complexes telles que les électrodes de grille. Cela aide à détecter les défauts potentiels, économiser du temps et de l'argent. Après l'inspection optique, les défauts de niveau de grille utilisent des aides pour identifier les défauts de non-uniformité et de processus. L'utilisation de défauts au niveau des portes permet de comparer les échantillons d'essai pour détecter des différences minuscules, ce qui peut souvent conduire à des problèmes de performance du produit. En plus d'identifier les défauts, TENCOR AIT-XP a la capacité d'utiliser des processus de métrologie avancés. Cela comprend l'utilisation de mesures de surface et de profil avancées, ainsi que l'analyse de la courbe, de la colonne vertébrale et de l'amplitude. Cela permet de tester en profondeur de nouveaux produits, fournissant une rétroaction précieuse aux ingénieurs sur la conception de l'appareil. En étudiant les mesures exactes d'une pièce, les ingénieurs peuvent apporter les modifications nécessaires pour s'assurer que le produit répond aux spécifications requises. KLA AIT-XP dispose également d'une interface graphique conviviale pour rendre le fonctionnement simple et efficace. L'interface utilisateur permet aux utilisateurs d'accéder rapidement et facilement, d'analyser et de revoir les résultats des tests de tous les types de tests de wafer et de métrologie. Les utilisateurs peuvent facilement identifier les défauts potentiels et apporter les changements de processus nécessaires pour améliorer la qualité du produit. Dans l'ensemble, TENCOR AIT XP est une suite complète de solutions d'essai et de métrologie de plaquettes qui permettent aux fabricants de détecter les défauts potentiels et d'apporter les modifications nécessaires aux processus. Il permet aux fabricants d'identifier rapidement les défauts, d'effectuer des mesures précises des composants et de fournir une rétroaction précieuse aux ingénieurs sur le processus de conception. L'interface graphique conviviale facilite l'utilisation des procédés avancés d'inspection optique et de métrologie.