Occasion KLA / TENCOR AIT XP+ #9255307 à vendre en France

KLA/TENCOR AIT XP + est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes de pointe conçu pour les technologies actuelles et futures de plaquettes semi-conductrices, telles que FinFET et d'autres nœuds avancés. C'est la dernière génération de cette série d'outils de mesure d'ultra-précision de KLA, et offre une foule de fonctionnalités et de capacités pour aider les clients à prendre la caractérisation des plaquettes et le contrôle des processus au niveau suivant. KLA AIT XP + est un système automatisé de test et de mesure de plaquettes capable de fournir des mesures de haute précision avec une vitesse et une précision sans précédent. L'unité utilise une technologie perfectionnée basée sur l'interféromètre laser pour mesurer les caractéristiques nanométriques individuelles avec quelques angströms de résolution, dépassant de loin les profileurs optiques traditionnels utilisés dans de nombreux laboratoires. En outre, la machine peut effectuer un certain nombre d'autres tâches d'essai et de métrologie, telles que la métrologie de l'épaisseur, la mesure de la largeur des lignes, la mesure des contraintes du film et l'imagerie topographique. TENCOR AIT-XP + fournit également plusieurs fonctionnalités avancées, permettant aux clients de mieux comprendre leurs processus de caractérisation des plaquettes, de contrôle des processus et de fiabilité. Par exemple, l'outil comprend un module de lentille d'immersion solide (SIL) pour permettre des mesures de précision de structures à haut rapport d'aspect telles que les finFET. En outre, l'actif offre une large gamme de techniques avancées d'analyse de données pour aider les clients à optimiser leurs performances de processus. AIT-XP + fournit également une précision, une précision et une répétabilité exceptionnelles sur une grande variété de substrats et pour une variété d'applications, ce qui en fait l'un des systèmes d'essai et de métrologie de plaquettes les plus polyvalents disponibles. Sa conception innovante et sa technologie de pointe la rendent également idéale pour un traitement d'extrême précision dans des environnements où le temps de mise sur le marché et la fiabilité sont essentiels. En conclusion, AIT XP + est un modèle exceptionnel d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour les technologies de nouvelle génération de plaquettes semi-conductrices. Il offre une précision, une précision et une répétabilité de pointe, ainsi qu'une multitude de fonctionnalités et de capacités avancées. En outre, sa conception innovante et sa technologie de pointe sont idéales pour un traitement extrêmement précis et rapide, ce qui en fait l'un des outils les plus précieux disponibles pour la recherche et le développement de semi-conducteurs de pointe.