Occasion KLA / TENCOR AIT XT+ #9261842 à vendre en France

KLA/TENCOR AIT XT + est un équipement d'essai et de métrologie de nouvelle génération qui fournit des capacités de détection de défauts multicanaux hautement sensibles pour détecter et corriger les défauts sur les substrats semi-conducteurs avancés des noeuds. Le système comprend l'imagerie électro-optique, une grappe d'examen leader dans l'industrie et la technologie QA Vision. L'unité d'imagerie électro-optique balaie un large éventail de substrats, permettant une inspection rapide et précise des plaquettes. Cela permet de détecter sur la plaquette des particules, des rayures, des films, des masquages et d'autres matériaux étrangers qui peuvent avoir causé une erreur de métrologie. Une grappe d'examen de l'industrie inspecte les données d'image de chaque plaquette, en utilisant des algorithmes avancés qui sont conçus pour éliminer les faux signaux de défaut pour une meilleure sensibilité et moins de fausses alarmes. KLA AIT XT + est équipé de la technologie QA Vision unique grâce à une suite de matériel et de logiciels personnalisés appelée Visual AI. Cette technologie combine des algorithmes avancés d'apprentissage automatique avec des méthodes d'inspection traditionnelles disparates afin d'identifier les défauts potentiels avec une grande précision. Cette machine apporte de l'intelligence aux pratiques d'inspection, automatisant le processus fastidieux d'inspection visuelle et améliorant l'exactitude de la constatation. L'outil comprend également une multitude d'autres fonctionnalités pour répondre aux besoins d'essai et de métrologie des fabricants de semi-conducteurs. Il comprend la classification avancée des défauts, l'inspection multi-détecteurs et la résolution au niveau de la matrice pour le rendement maximal des plaquettes. De plus, il comporte une intégration automatisée des processus, une surveillance avancée des défauts et des rapports pour une caractérisation et une analyse rapides. TENCOR AIT XT + offre une solution élégante pour les tests et la métrologie des plaquettes les plus modernes. Sa combinaison d'une grande sensibilité, de la technologie QA, d'une classification avancée et d'une intégration automatisée des processus le rend idéal pour les fabricants de semi-conducteurs qui cherchent à augmenter le rendement grâce à une meilleure production de plaquettes. L'actif est robuste et adaptatif, offrant une détection précise des défauts et une métrologie dans diverses conditions.