Occasion KLA / TENCOR AIT XUV #9145311 à vendre en France

KLA/TENCOR AIT XUV est un équipement d'essai et de métrologie pour une large gamme d'applications industrielles et semi-conductrices. Il s'agit d'un système spécialisé d'imagerie et de métrologie capable de mesurer et d'inspecter avec précision un large éventail de matériaux et de composants. KLA AIT XUV est basé sur une source de synchrotron à ultraviolet profond (DUV) et utilise des optiques d'imagerie refroidies à l'eau et des logiciels avancés pour produire des images à haute résolution, sans contact et des mesures exactes. L'unité utilise diverses technologies d'imagerie spécialisées, telles que la photolithographie, la microscopie électronique à balayage et la spectroscopie Raman. Il peut également détecter des défauts de propriété et de profondeur tout en fournissant une mesure et une caractérisation précises des caractéristiques de surface. TENCOR AIT-XUV est conçu pour être évolutif en fonction de différentes exigences, permettant aux utilisateurs de choisir le meilleur niveau de performance pour leur application spécifique. Il est également de nature très modulaire, de sorte que les utilisateurs peuvent personnaliser et configurer la machine à leurs besoins précis. L'outil offre également aux utilisateurs un certain nombre d'options d'automatisation et de logiciel, telles que la superposition de position et l'analyse automatisée des pannes. KLA AIT-XUV comprend des outils spécialisés pour examiner et mesurer des paramètres tels que les dimensions critiques, la texture de surface et la précision de recouvrement, ainsi que pour inspecter les défauts de nano-échelle. Il comprend également une optique avancée et des résolutions pour identifier et catégoriser les caractéristiques des matériaux. Ces outils permettent aux utilisateurs d'analyser avec précision les micro- et nano-structures des échantillons semi-conducteurs. KLA/TENCOR AIT-XUV est adapté à une large gamme d'applications industrielles et semi-conductrices, grâce à son design polyvalent et ses hautes performances. Il est capable d'imager et de caractériser les détails fins et les caractéristiques sub-microns avec précision. Il est également conçu pour offrir un fonctionnement fiable et durable. Il offre une excellente flexibilité, lui permettant d'être utilisé dans de nombreux contextes différents, y compris la recherche, la production et le contrôle de qualité.