Occasion KLA / TENCOR AIT XUV #9240637 à vendre en France

KLAMD KLA/TENCOR AIT XUV™ est un équipement d'essai et de métrologie robuste et performant conçu pour l'industrie des semi-conducteurs. Il utilise la technologie des sources ultraviolettes extrêmes (XUV) pour inspecter et mesurer les caractéristiques physiques, mécaniques et électriques des plaquettes, fournissant une imagerie haute résolution, une cartographie rapide des plaquettes et une analyse précise des plaquettes. Le système KLA AIT XUV fonctionne avec une source lumineuse XUV de pointe, fournissant des détails et une résolution sans précédent jusqu'à 4nm - permettant une précision de criblage et d'analyse au sol. L'unité dispose d'un laser XUV pulsé haute puissance, combiné à une optique d'imagerie avancée et une plate-forme d'analyse d'image numérique, pour fournir des capacités d'imagerie et de collecte de données supérieures. La machine prend en charge la cartographie et l'analyse rapides des plaquettes, fournissant profil des plaquettes et analyse des défauts sur des centaines de plaquettes en une heure. L'outil riche en fonctionnalités offre une inspection automatisée sans contact, permettant une cartographie complète de la surface de la plaquette. La plate-forme AIT-XUV de TENCOR offre une précision et une répétabilité supérieures avec ses capacités de métrologie à l'échelle nanométrique. Cela inclut des paramètres tels que la précision de recouvrement, la taille des particules et les mesures de rugosité de surface, ainsi que la mesure des caractéristiques critiques, le tout effectué sans contact ou manipulation de la plaquette. TENCOR AIT XUV actif est également capable d'analyse de défauts complexes. Il utilise sa technologie d'imagerie avancée pour capturer des images détaillées des défauts et déterminer rapidement leur taille, leur forme et leur emplacement. Combiné à son modèle polyvalent de manipulation des échantillons, AIT XUV offre une plate-forme polyvalente avec des capacités d'analyse des défauts supérieures. Aucun autre équipement d'essai et de métrologie ne peut offrir le même niveau de détail d'imagerie, de vitesse d'analyse et de précision que KLA/TENCOR AIT-XUV. Ce système robuste et fiable est conçu pour offrir des performances de pointe et une disponibilité maximale, ce qui en fait le choix idéal pour tout environnement de production. Avec sa configuration de module flexible et ses capacités multi-applications, l'unité AIT-XUV de KLA fournit une solution complète pour les essais de plaquettes et la métrologie.