Occasion KLA / TENCOR AIT #293595750 à vendre en France

KLA/TENCOR AIT (Advanced Inspection Technology) est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie pour la fabrication de semi-conducteurs. Il offre un moyen rapide, précis et efficace de mesurer et d'analyser les défauts lors des processus de fabrication et d'emballage des plaquettes. Ce système de haute précision est capable d'effectuer une grande variété de tâches d'essai, de métrologie et d'inspection des plaquettes, y compris l'inspection optique, l'imagerie par faisceau d'électrons, la diffraction laser, la microscopie électronique à transmission (TEM), la mesure de la densité de résistance, la détection de particules, l'imagerie par cryo-échantillon (CSI), l'essai de combustion et l'examen automatisé des défauts (ADR). Les capacités d'inspection de l'unité vont de l'étude des caractéristiques de surface distinctives des plaquettes à la détection de particules extrêmement petites sur l'échantillon, en passant par l'analyse complète des performances des puces. Les solutions de détection intégrées permettent d'améliorer considérablement le débit et de gagner du temps, tout en fournissant des résultats exceptionnellement précis. Il offre également l'automatisation de l'analyse d'images, qui fournit des métriques répétables et fiables qui soutiennent l'optimisation des processus. La machine permet un balayage entièrement automatisé, la détection des particules et l'inspection totale de toutes les étapes du processus de production d'une plaquette, du développement à la fabrication. Cela garantit que les produits finaux répondent aux critères de qualité de l'OEM, pour une fiabilité et une performance maximales. L'outil intègre la haute vitesse, la haute précision, la focalisation automatisée et la numérisation SEM pour fournir des inspections complètes des défauts, répondant à un large éventail de technologies de plaquettes, des cellules photovoltaïques à la fabrication de dispositifs de mémoire. En plus des tests automatisés des plaquettes, l'actif fournit une foule d'autres capacités. Il prend en charge l'échantillonnage manuel et entièrement automatisé, avec des résultats qui sont immédiatement disponibles pour la présentation et l'analyse. Il peut également être optimisé pour identifier les sources potentielles de contamination et les grappes de défauts à chaque étape du processus de fabrication, assurant ainsi un contrôle total du processus. Il permet également une identification et un traçage positifs du produit à des fins de traçabilité. En fournissant ce niveau de précision, de performance et d'automatisation, le modèle AIT KLA permet aux fabricants de semi-conducteurs de maximiser leurs rendements, de réduire les coûts des produits et d'optimiser leurs coûts de production totaux. Les résultats sont une chaîne de production plus compétitive et plus efficace, garantissant que leurs produits dépassent les normes de l'industrie et les attentes des clients.