Occasion KLA / TENCOR AIT #293642831 à vendre en France

KLA / TENCOR AIT
ID: 293642831
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 1999
Defect inspection system, 8" 1999 vintage.
KLA/TENCOR AIT est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour mesurer et inspecter avec précision les plaquettes semi-conductrices. Le système combine des technologies optiques et de calcul pour détecter les défauts structurels et fournir une évaluation précise de la qualité des plaquettes. Il capture des images de la surface de la plaquette avec des capteurs d'imagerie numérique haute résolution et traite les données à l'aide d'algorithmes avancés. L'unité utilise ensuite une combinaison de reconnaissance de motifs, d'analyse automatisée et de perspicacité humaine pour détecter, catégoriser et quantifier les défauts. La machine AIT KLA couvre un large éventail de besoins de production et de processus de wafer, y compris la caractérisation des dimensions critiques, les mesures de recouvrement et l'inspection des défauts. Ses capteurs optiques haute vitesse offrent une analyse d'image détaillée pour identifier les anomalies jusqu'à l'échelle du nanomètre. Il est également capable de fournir des données sur la composition et la surface de la plaquette avec précision et cohérence L'outil TENCOR AIT est conçu pour faciliter le débit efficace et simplifier l'analyse des données. Il dispose d'un logiciel personnalisable et d'une architecture ouverte, permettant aux utilisateurs d'ajouter du matériel au besoin et de modifier facilement le logiciel. Cela le rend idéal pour les applications qui exigent une adaptation rapide et une analyse rapide comme celles trouvées dans les nanotechnologies avancées. L'actif comprend également un chargeur de plaquettes automatisé pour augmenter la productivité et un environnement à faible bruit pour des mesures précises et répétables. Il comprend également un modèle de surveillance environnementale garantissant des performances fiables dans n'importe quel environnement. La combinaison de matériel intégré et d'algorithmes avancés peut également être utilisée pour identifier les différences entre les plaquettes individuelles, augmenter le rendement et réduire les erreurs de production. Le défaut de la plaquette et le taux de gravure du plasma peuvent également être déterminés avec précision avec l'équipement AIT. KLA/TENCOR AIT est une solution idéale pour les fabricants à la recherche de mesures fiables et précises qui peuvent être rapidement intégrées dans leurs processus de production. Il est conçu pour fournir le plus haut niveau de qualité d'image, de détection de défauts et de performance. En outre, le système est très configurable et peut accueillir différents types de production de plaquettes. L'architecture ouverte facilite l'intégration de nouveaux matériels et logiciels, permettant aux utilisateurs de modifier l'unité au fur et à mesure que leurs besoins évoluent.
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