Occasion KLA / TENCOR AIT #9296265 à vendre en France
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ID: 9296265
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 1998
Defect inspection system, 8"
1998 vintage.
KLA/TENCOR AIT, un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie, est un outil d'imagerie et d'analyse de pointe conçu pour aider à identifier et à corriger les défauts des plaquettes de prochaine génération. Le système fournit une imagerie 2D et 3D très détaillée, l'analyse et la déclaration de la surface totale d'une plaquette. Il est conçu pour des tâches telles que la classification des défauts, les défauts d'impression, la vérification adéquate de l'emplacement, l'inspection des copeaux et l'analyse des pannes de ponts. L'unité AIT KLA offre divers types d'imagerie de pointe tels que l'imagerie de champ lumineux, la capture d'image auto-focalisée, et une variété de techniques d'inspection automatisée. Sa machine d'imagerie et d'analyse de pointe offre une identification sophistiquée et rapide des défauts et offre une grande sensibilité pour détecter même les petits défauts. Il permet aux utilisateurs de catégoriser et de prioriser rapidement les défauts, d'identifier les tendances dans leurs processus de production et, en fin de compte, d'améliorer le rendement des appareils. L'outil TENCOR AIT fournit la caractérisation des wafers, y compris les statistiques, la cartographie de la densité des défauts, l'analyse de la largeur des lignes et la reconnaissance des patters. Il offre également des capacités intégrées d'examen des défauts, fournit une rétroaction rapide sur l'analyse des défaillances, et aide les utilisateurs à isoler les zones problématiques. De plus, l'actif offre une capacité automatisée d'inspection des défauts de surface et d'intégration des processus permettant une comparaison haute vitesse entre filière ou plaquette et plaquette. De plus, l'ACI peut être utilisé pour déterminer les tendances des données de métrologie à partir de plusieurs outils et fournit diverses options de rapport, comme le rapport de wafer et le résumé des défauts, avec un résultat graphique concis. Son interface conviviale et son fonctionnement automatisé sont également conçus pour aider les utilisateurs à établir et exécuter rapidement et avec précision différents types d'inspections. Dans l'ensemble, KLA/TENCOR AIT est un outil puissant de test et de métrologie des plaquettes qui permet aux utilisateurs d'identifier, d'isoler et de corriger efficacement les défauts des plaquettes de prochaine génération. C'est une ressource inestimable pour l'amélioration du rendement des appareils et l'optimisation des procédés, assurant la production de dispositifs de haute qualité avec un coût réduit.
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