Occasion KLA / TENCOR AIT #9400274 à vendre en France

KLA/TENCOR AIT (Advanced Interactive Technology) est un équipement leader d'essai et de métrologie de plaquettes qui fournit des informations rapides, fiables et significatives sur la qualité des nanomètres et des microprocesseurs. Le système offre des capacités de métrologie, de détection de défauts et d'analyse haut de gamme pour aider les fabricants de semi-conducteurs à produire et à surveiller des circuits intégrés. Les systèmes AIT KLA utilisent des algorithmes d'inspection optique avancés et automatisés pour détecter les défauts dans les plaquettes. L'unité est conçue avec des capacités de résolution de sous-microns, fournissant le plus haut niveau de précision et l'analyse détaillée des défauts. La technologie de test et de métrologie innovante TENCOR AIT permet aux utilisateurs d'analyser rapidement et avec précision une plaquette, de repérer les défauts et de mesurer les caractéristiques et les motifs. De plus, les systèmes AIT permettent également aux utilisateurs de mettre en place des inspections personnalisées et de surveiller les processus sur plusieurs sites afin d'assurer le contrôle de la qualité. Lors de l'analyse des wafers, les systèmes KLA/TENCOR AIT utilisent plusieurs technologies d'imagerie, dont le champ lumineux, l'infrarouge et les UV respectivement. Ces technologies offrent une vue d'ensemble de la plaquette et peuvent identifier les défauts et les variations les plus difficiles. Les algorithmes de détection des défauts de la machine sont alimentés par une bibliothèque AtPixel (DAP) déclassée brevetée, qui permet aux utilisateurs de visualiser, d'étudier et de mesurer des modèles délicats et des défauts qui autrement seraient difficiles à détecter. Le logiciel de KLA AIT est également puissant, offrant aux utilisateurs une façon automatisée et simplifiée de faire fonctionner l'outil. De la cartographie des plaquettes et de la reconnaissance des motifs à l'analyse des défauts et au contrôle des processus, le logiciel permet aux utilisateurs d'extraire des points de données cruciaux et de prendre des décisions précises plus rapidement et plus efficacement. En outre, le logiciel dispose de capacités analytiques avancées qui permettent aux utilisateurs d'examiner des rapports détaillés, de créer des modèles optiques et de générer des informations axées sur les données. TENCOR AIT est un atout de métrologie fiable et complet qui offre des capacités de détection de défauts et d'analyse robustes. Les logiciels intuitifs et les technologies d'imagerie avancées offrent une vision complète de la plaquette et facilitent l'identification et la correction des défauts. Pour les fabricants de semi-conducteurs, l'AIT est un outil inestimable capable d'assurer le plus haut niveau de qualité de leurs produits.