Occasion KLA / TENCOR Aleris CX #9315378 à vendre en France

KLA/TENCOR Aleris CX est un équipement avancé d'essai et de métrologie de plaquettes spécialement conçu pour fournir une métrologie efficace d'une large gamme de dispositifs semi-conducteurs. Ce système automatisé d'essai et de métrologie des plaquettes est conçu pour fonctionner avec un débit maximum et des résultats de mesure très précis, en particulier dans les domaines de la révision des défauts, de la lithographie avancée, des essais paramétriques et de l'optimisation des rendements. L'unité est modulaire et intègre trois composantes principales : la machine d'inspection, l'outil de métrologie et l'actif de comparaison des caractéristiques. Le modèle d'inspection est un équipement entièrement automatisé pour l'inspection rapide des défauts, l'inspection de diverses poudres sur une plaquette et l'inspection des CD, du recouvrement, de l'épaisseur, de la résistivité et de la planéité. Il prend également en charge l'examen automatique et manuel des défauts. Il utilise l'optique d'imagerie de haute puissance, la scatterométrie laser multifaisceaux pour le code non destructif, et l'impression laser pour l'identification des plaquettes. Le système de métrologie offre des capacités de métrologie avancées, y compris CD, superposition, métrologie, résistivité, changement de résistance, planéité, et d'autres mesures de haute précision. Il utilise des algorithmes logiciels avancés pour fournir des résultats très précis. Il est également très évolutif, permettant une évaluation rapide de plusieurs plaquettes en une seule fois. L'unité de comparaison de fonctionnalités est une machine de métrologie avancée qui fournit une mesure rapide et précise des dispositifs à transistor. Il utilise une combinaison d'algorithmes de reconstruction d'image et de simulation physique basée sur des modèles pour analyser les caractéristiques du dispositif du transistor. L'outil est conçu pour mesurer la cadence des dispositifs à transistor, ainsi que d'autres caractéristiques du transistor telles que le courant tunnel et le courant de fuite. KLA Aleris CX est un atout de test et de métrologie avancé pour mesurer une variété de dispositifs semi-conducteurs avec la plus grande précision et la plus grande vitesse. Il offre une inspection efficace des défauts, un support pour la scatterométrie laser multifaisceaux, et une comparaison rapide et précise des caractéristiques. Le modèle est très modulaire, permettant une personnalisation facile de ses différents composants en fonction des besoins des clients.