Occasion KLA / TENCOR Aleris HT #9380623 à vendre en France
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ID: 9380623
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2005
Film thickness measurement system, 12"
SpectraFX 1000 HT
(2) Loadports with YASKAWA robot
With Hard Disc Drive (HDD)
2005 vintage.
KLA/TENCOR Aleris HT est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe qui fournit des capacités de robotique, de visualisation et de mesure avancées pour la production de composants microélectroniques de haute performance. Il offre une variété d'options de test et de fonctions de manutention des plaquettes qui aident à maximiser la qualité et le débit des plaquettes tout en minimisant le coût et le temps. KLA Aleris HT prend en charge les essais de wafer sur des géométries de balayage à balayage limité et comprend un microscope électronique à balayage (SEM) pour l'inspection de die-to-die et die-to-edge des caractéristiques complexes de sub-micron. Le système modulaire fournit une inspection simultanée de plusieurs plaquettes, donnant aux utilisateurs la flexibilité de personnaliser leur flux de travail. Avec des vitesses d'inspection rapides et une option d'analyse à 5 vitesses leader dans l'industrie, un débit de plaquettes jusqu'à 50 % plus rapide est possible avec TENCOR Aleris HT. En plus de ses fonctions de test avancées, Aleris HT prend également en charge la métrologie des plaquettes. Il comprend un microscope optique à balayage de champ proche unique, qui permet l'imagerie à haute résolution extrême, pour mesurer une variété de caractéristiques critiques avec la précision du nanomètre. Grâce à son microscope à capacité de balayage avancé, l'unité peut mesurer la capacité, la résistance et d'autres propriétés électriques sur des structures d'interconnexion individuelles. Enfin, KLA/TENCOR Aleris HT comprend une bibliothèque robuste d'algorithmes d'analyse des plaquettes, conçus pour détecter et isoler automatiquement les défauts à tous les niveaux de la structure des plaquettes, du haut vers le bas. L'interface conviviale de KLA Aleris HT permet aux opérateurs de configurer et de surveiller facilement leurs opérations de test et de métrologie. La fonction de piste d'audit interne incluse assure la traçabilité en cas d'analyse médico-légale. La machine comprend également des capacités d'accès à distance qui permettent de contrôler et de surveiller les essais et les opérations de métrologie à partir d'un emplacement central. En résumé, TENCOR Aleris HT est un outil d'essai et de métrologie de wafer tout-en-un avancé qui fournit une robotique de pointe, la visualisation et la capacité de mesure pour produire des composants microélectroniques de haute qualité avec un débit de wafer plus rapide et une plus grande précision. Grâce à son interface conviviale, à sa bibliothèque robuste d'algorithmes d'analyse et à ses capacités d'accès à distance, Aleris HT peut contribuer à réduire les coûts et le temps de fabrication tout en garantissant une qualité supérieure.
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