Occasion KLA / TENCOR Aleris Hx8500 #9281738 à vendre en France

KLA/TENCOR Aleris Hx8500 Wafer Testing & Metrology Equipment est une solution d'inspection optique automatisée avancée (AOI), d'examen des défauts et de test non destructif qui offre un ensemble complet de capacités de test avancées. Le système est conçu pour fournir le plus haut niveau de débit dans une empreinte compacte. L'unité fonctionne sur des plaquettes jusqu'à 8 pouces de diamètre, avec une surface d'essai pouvant atteindre trois pieds. KLA Aleris Hx8500 utilise une machine d'imagerie bidimensionnelle pour inspecter les motifs des plaquettes jusqu'à 8 "de diamètre. Des images à haute résolution sont acquises et des lentilles numériques sont utilisées pour la mesure des caractéristiques minuscules et des substrats globaux. L'outil d'éclairage avancé fournit une gamme de configurations optiques pour détecter une variété de défauts de plaquettes différentes, y compris des rayures, des trous et des défauts dans les largeurs de lignes, les formes, les profondeurs et l'alignement. TENCOR Aleris Hx8500 dispose également d'un puissant moteur d'inspection qui capture et enregistre les données des plaquettes pour examen. L'actif offre également un logiciel d'analyse d'image statistique qui peut être utilisé pour soutenir des décisions de contrôle de qualité fiables. L'interface facile à utiliser permet aux utilisateurs de configurer et de personnaliser rapidement les inspections, et l'optimisation automatisée du flux de travail contribue à maximiser l'efficacité des inspections. Le modèle fournit également un ensemble complet de capacités de test de plaquettes, y compris la validation brevetée du programme de test automatique, l'optimisation de la bande de garde, la génération de programmes de test paramétriques, l'analyse paramétrique et la rétention de défaut, et la détection et l'analyse des défauts de motif. Ces fonctionnalités sont conçues pour fournir les capacités de test de plaquettes les plus avancées et les plus précises dans un ensemble compact. Pour garantir la fiabilité des résultats des tests de plaquettes, l'équipement comprend également des fonctionnalités telles que l'enregistrement automatisé des sites de défectuosités, la capture d'images de défectuosités d'enregistrement, la capture d'images de taille complète et l'inspection complète des plaquettes. De plus, le système offre une unité d'étalonnage intégrée AutoRX en option pour garantir des résultats de mesure précis. Afin d'assurer une efficacité maximale, la machine est également équipée d'une série d'outils de gestion des données, tels qu'une base de données centralisée, un outil d'enregistrement des données et un actif de reporting. Ces fonctionnalités permettent aux utilisateurs de suivre facilement les résultats des tests, de générer des rapports et de maintenir une archive de données organisée. Aleris Hx8500 Wafer Testing & Metrology Model est une solution avancée de test de plaquettes conçue pour fournir un moyen efficace et rentable d'inspecter et d'évaluer les plaquettes pour détecter les défauts. L'ensemble complet de fonctions de l'équipement fournit des tests fiables, une optimisation efficace du flux de travail et des capacités de gestion des données, ce qui en fait un outil précieux pour le contrôle de la qualité et l'analyse des défauts.