Occasion KLA / TENCOR Alpha Step 200 #293635764 à vendre en France

KLA/TENCOR Alpha Step 200 est un équipement d'essai et de métrologie de nouvelle génération destiné à améliorer le contrôle des processus et à améliorer les rendements. Le système mesure la topographie de surface, les dimensions critiques et l'épaisseur avec la précision du sous-nanomètre, ce qui le rend idéal pour la fabrication d'IC, l'inspection des semi-conducteurs et les environnements de fabrication avancés. L'unité dispose d'un étage 5 axes, offrant une flexibilité et une précision inégalées dans les essais de plaquettes et la métrologie. Une interface utilisateur graphique intuitive permet d'optimiser les processus de test des plaquettes, de rationaliser les tâches de configuration et d'inspection. Un environnement logiciel offre des capacités intégrées de gestion des données et d'analyse statistique. KLA ALPHASTEP 200 intègre des algorithmes de vision exclusifs pour identifier et mesurer les caractéristiques avec une précision sous-nanométrique. Ces algorithmes sont alimentés par une machine d'intelligence artificielle exclusive (IA) avancée, conçue pour analyser les modèles de données et prédire les résultats. Cette approche axée sur l'IA permet une précision et une répétabilité accrues des résultats. TENCOR ALPHA-STEP 200 offre une large gamme de capacités, y compris l'inspection des défauts, l'alignement et la mesure de superposition, les codeurs 3D, la planéité des plaquettes, le CD-SEM et les fonctions de métrologie propres aux processus. Il fournit également une résolution sous micron des profils de surface et des mesures d'épaisseur. Ces capacités permettent de détecter les défauts à l'échelle micronique et sous-micronique et les variations de processus, permettant un contrôle de qualité approfondi pour les applications avancées. Avec sa précision et sa répétabilité améliorées, ALPHA-STEP 200 permet un contrôle et des performances accrus du processus. C'est le choix idéal pour les fabricants qui recherchent des solutions de test et de métrologie supérieures.