Occasion KLA / TENCOR Alpha Step 200 #293644262 à vendre en France

KLA/TENCOR Alpha Step 200 est un équipement complet d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour fournir aux utilisateurs le plus haut niveau de précision dans l'analyse, la caractérisation et l'optimisation de la qualité des plaquettes. Le système est le premier du genre à offrir la capacité de surveiller, d'image et de mesurer simultanément une gamme de caractéristiques sur une grande variété de substrats. Il offre des modes de visualisation multiples qui permettent aux utilisateurs d'inspecter, de mesurer et d'analyser différents aspects des substrats avec une plate-forme d'imagerie unique. L'unité est bien équipée avec des capacités automatisées et haut de gamme qui permettent une large gamme d'opérations de métrologie des plaquettes. Il a trois modes d'imagerie - Laser Line Scanning (LLS) permet la cartographie topographique de surface ; La spectroscopie infrarouge à transformée de Fourier (FTIR) permet une analyse très détaillée de la composition des plaquettes ; et l'interférométrie en lumière blanche fournit l'imagerie 3D pour permettre l'imagerie et la mesure au niveau du nanomètre. Des caractéristiques de mesure avancées comme Focus Variation et on-spot Adjust Focus permettent de caractériser la surface de la plaquette pour la mesure de la contrainte et de la hauteur du pas. En outre, la machine offre une gamme d'algorithmes de contrôle de qualité et de fonctions de reporting pour aider les utilisateurs à surveiller et à améliorer la qualité de leurs substrats. L'outil est très efficace et précis dans ses opérations, capable d'atteindre un pas de pixel de 5nm et moins avec une grande précision. Il offre également une large gamme de réglages dynamiques qui permettent aux utilisateurs de maximiser leurs résultats et de suivre avec précision leurs rendements de production. L'actif dispose d'une précision et d'une précision de mesure supérieures, grâce à sa technologie d'imagerie hybride et à sa puissante architecture matérielle. Des outils haut de gamme tels que Contrast Enhanced Edge Analysis (CEEA) et Focus Metrology améliorent les capacités de métrologie du modèle tout en offrant d'excellentes performances. En outre, un autofocus avancé et auto-calibrant aide à fournir des résultats précis sur différentes plaquettes. L'équipement est conçu pour être convivial et facile à utiliser, avec une interface graphique simple et intuitive qui guide les utilisateurs à chaque étape de l'opération. Plusieurs fonctionnalités intégrées telles que la configuration d'inspection automatique et la sélection de motifs de numérisation aident les utilisateurs à gagner du temps et de l'effort. En outre, le système offre une gamme d'outils de visualisation, y compris des tracés de contour et des tracés de contour tridimensionnels de la plaquette pour aider les utilisateurs à comparer les performances de différents substrats. Globalement, KLA ALPHASTEP 200 est une unité idéale pour les utilisateurs à la recherche d'une solution de test et de métrologie efficace, précise et puissante. Avec son ensemble robuste de caractéristiques et de capacités, la machine est bien adaptée à un large éventail d'applications de test de plaquettes et de métrologie.