Occasion KLA / TENCOR Alpha Step 200 #9398835 à vendre en France

KLA/TENCOR Alpha Step 200 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes spécialement développé pour la caractérisation des matériaux IC à haute performance. L'architecture d'imagerie en deux étapes du système combine des capacités améliorées de métrologie automatisée et d'inspection des défauts qui permettent de quantifier la variation des processus. Il offre aux clients une visibilité en temps réel et des mesures de criticité des défauts améliorées pour identifier rapidement les origines des défauts et réduire les temps d'analyse des causes profondes. KLA ALPHASTEP 200 présente le premier agrandissement sur plaquettes de l'industrie jusqu'à 1000x, permettant la saisie d'informations de surface détaillées. Cet agrandissement permet la visualisation de variables à petite échelle, permettant une analyse approfondie du processus de lithographie. Avec sa plate-forme d'imagerie avancée et sa suite logicielle, TENCOR ALPHA-STEP 200 peut détecter et quantifier des variables impossibles à mesurer avec les méthodes traditionnelles. La suite logicielle de métrologie automatisée de l'unité se combine avec des capacités d'imagerie brevetées pour permettre une analyse quantitative 2D des wafers ou des sites individuels des wafers. Les algorithmes puissants du logiciel et les systèmes de mesure automatisés permettent une détection précise des défauts et des mesures automatisées, même sur des structures agressives. Les capacités uniques de mosaïque brevetées de wafer de KLA/TENCOR ALPHA-STEP 200 offrent aux utilisateurs une image continue sur toute la surface de la filière. Ceci permet une compréhension détaillée des applications telles que l'inspection par faisceau électronique et l'aplatissement CMP 3D. Cela fournit également aux utilisateurs plus d'informations lorsqu'ils décident de la façon d'optimiser leur processus. KLA Alpha Step 200 est conçu pour une productivité élevée et une facilité d'utilisation par les opérateurs. La machine peut être intégrée à d'autres systèmes logiciels et matériels et intègre des critères de réussite/échec basés sur des modèles et une analyse basée sur l'image. Le logiciel convivial offre également aux clients un environnement intuitif et facile à utiliser, permettant une formation rapide et efficace du personnel. Lorsqu'il est utilisé en combinaison avec sa vaste gamme de logiciels, d'accessoires et d'outils d'analyse d'images, Alpha Step 200 offre aux clients un outil extrêmement puissant pour la métrologie IC et l'inspection des défauts. Les clients bénéficient de sa capacité à mesurer les variables à petite échelle, tout en ayant accès à des données de métrologie automatisées complètes. Grâce à son niveau sans précédent d'amplification et de détection des défauts, l'outil constitue un choix idéal pour les fabricants de semi-conducteurs qui cherchent à identifier et à corriger rapidement les variations de processus.