Occasion KLA / TENCOR Alpha Step 300 #140855 à vendre en France

KLA/TENCOR Alpha Step 300 wafer testing and metrology equipment est un outil de mesure automatisé utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs pour tester la performance et la qualité des puces semi-conductrices. Il fournit des mesures précises et répétables de paramètres critiques tels que les hauteurs de pas, la rugosité de surface, les motifs, les largeurs de lignes et les rapports d'aspect. Le système utilise un interféromètre pour enregistrer le profil de la plaquette à une précision de 0,5 nanomètres sur une plage de mesure si jusqu'à 300 millimètres. Cela permet à l'utilisateur de détecter de très petits changements dans la forme de la plaquette qui peuvent avoir un effet profond sur la qualité du produit fini. KLA Alpha Step 300 dispose également d'une reconnaissance automatique des motifs pour des mesures précises des motifs, y compris une position et une taille précises. Un microscope optique embarqué permet à l'opérateur de visualiser directement la surface de la plaquette. De plus, des outils logiciels automatisés permettent de mesurer et d'analyser des données volumineuses avec une grande précision. L'unité est capable de mesurer jusqu'à 200 échantillons par heure et est équipée de fonctions de stockage de données et de compte rendu qui facilitent le suivi des performances dans le temps. TENCOR ALPHASTEP 300 est offert avec une gamme de composants en option pour améliorer les performances et les capacités de la machine. Un scanner linéaire à grande vitesse et grand champ de vision en option augmente la vitesse de débit à 500 échantillons par heure. Un outil de télécommande intelligent ajuste automatiquement l'échantillon à la tête optique, éliminant la configuration manuelle et améliorant le débit. Une option unique de transducteur ultrasonore permet de mesurer des structures inégalement espacées et de caractériser des structures à plusieurs niveaux. ALPHASTEP 300 wafer testing and metrology asset est un outil de mesure automatisé conçu pour fournir des mesures précises et répétables des paramètres critiques. Il est simple à utiliser, robuste et fiable, avec la capacité de mesurer des centaines d'échantillons par heure à 0,5 nanomètre de précision. Un éventail de composants optionnels améliore encore les performances et les capacités du modèle, le rendant idéal pour les fabricants de semi-conducteurs qui cherchent à assurer le plus haut niveau de contrôle de qualité et de performance de leurs produits.