Occasion KLA / TENCOR Alpha Step 500 #9181207 à vendre en France

KLA/TENCOR Alpha Step 500 Wafer Testing and Metrology Equipment offre une plate-forme leader de l'industrie pour les applications de métrologie de surface et d'examen des défauts. Le système de pointe est conçu pour être compact, économe en espace, et permet un test efficace des plaquettes semi-conductrices. KLA Alpha Step 500 est une unité complète et intégrée, à la fois polyvalente et fiable, qui effectue de nombreux essais de plaquettes et fonctions de métrologie de surface. Il est hautement automatisé et est capable de tester des plaquettes jusqu'à 4 pouces de diamètre. Grâce à ses capteurs optiques avancés de tête et d'image, la machine détecte et inspecte les caractéristiques critiques de la surface des semi-conducteurs telles que les oxydes de grille, les couches de masque de grille, ainsi que soutient la détection des défauts, la mesure de la largeur/profondeur et l'analyse physique de la surface supérieure. L'outil offre également une analyse intégrée avancée des données pour l'analyse prédictive des motifs, la correction en temps réel de la réponse de balayage non idéale, ainsi que des fonctions automatisées de repérage et de descente des défauts. Ces caractéristiques améliorent la capacité de mesure de l'actif pour assurer la plus grande précision et la plus grande répétabilité des résultats d'essai. Supplémentairement, TENCOR ALPHASTEP 500's l'option d'IntelligentWafer™ permet la reconnaissance de gaufrette automatique pour le chargement de gaufrette rapide, l'enregistrement et la cartographie. L'interface utilisateur intuitive du modèle permet aux utilisateurs d'identifier facilement et rapidement les problèmes, tant dans les images que dans les mesures, et peut être configurée pour fournir des affichages de données personnalisés. Les ingénieurs peuvent surveiller et analyser l'état du processus d'essai tout en recevant en permanence des données et des commentaires sur les performances. En outre, KLA ALPHASTEP 500 peut être connecté avec des équipements de contrôle de supervision et des systèmes intégrés de gestion des données, permettant une gestion et une supervision centralisées de plusieurs appareils. En résumé, TENCOR Alpha Step 500 Wafer Testing and Metrology System fournit une imagerie haute résolution et des mesures de densité avec sa conception d'ingénierie intelligente, permettant à l'utilisateur d'obtenir des résultats de test rapides, précis et reproductibles. L'interface utilisateur intuitive et le chargement et la reconnaissance automatisés des plaquettes permettent une expérience de test efficace.