Occasion KLA / TENCOR Alpha Step 500 #9215920 à vendre en France

KLA/TENCOR Alpha Step 500 est un équipement avancé d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour la mesure rapide, précise et précise d'architectures de dispositifs semi-conducteurs extrêmement complexes. Il utilise la dernière technologie de microscope de sonde à balayage (SPM) pour mesurer rapidement et avec précision la position et l'orientation des composants de l'appareil. KLA Alpha Step 500 est particulièrement utile pour mesurer les caractéristiques nano-échelle car il est capable de résolutions d'image aussi bas que 10 nm pour capturer avec précision les caractéristiques fines à la surface de la plaquette. Le logiciel inclus fournit un alignement semi-automatique et une capture d'image rapide ainsi que de puissants algorithmes d'analyse d'image qui permettent une mesure très précise de toutes les caractéristiques pertinentes. Son ergonomie et son architecture spécialisées permettent aux utilisateurs de déplacer la plaquette à différents niveaux de précision et de précision. L'étage de plaquette rapide et précis avec codeurs redondants permet un excellent contrôle de l'étage de plaquette en termes de placement en rotation et de translation. Le montage et le démontage rapides et faciles des plaquettes TENCOR ALPHASTEP 500 garantissent un temps de retournement rapide et une productivité accrue. Le système utilise une unité de numérisation et d'imagerie automatisée pour divers appareils analogiques et numériques. La machine comprend également un scanner breveté qui fournit une résolution et une précision extrêmement fines, permettant à l'utilisateur de mesurer des détails de plaquette qui sont normalement difficiles ou impossibles à mesurer avec d'autres méthodes. Le scanner utilise la technologie de contrôle de mouvement pour un positionnement précis similaire à celui utilisé dans un outil de lithographie par plasma ou faisceau d'électrons (EBL). KLA ALPHASTEP 500 dispose également d'un atout de vision avancée qui permet une inspection en direct de chaque échantillon. Cela permet à l'utilisateur de surveiller et dépanner facilement toutes les anomalies. Le modèle offre l'affichage de données et des représentations graphiques de la structure de la plaquette. Toutes les données pertinentes sont stockées numériquement sur le disque dur et peuvent être archivées pour une analyse et une référence futures. L'équipement fournit également une analyse statistique complète des données de chaque plaquette permettant à l'utilisateur de déterminer les tendances, les rendements et d'autres paramètres importants. En résumé, KLA/TENCOR ALPHASTEP 500 est un système de test et de métrologie de plaquettes très avancé et précis. Ses capacités, combinées à son interface conviviale, permettent une précision et une sensibilité supérieures dans la détermination de la position, de l'orientation et de la structure des dispositifs nanométriques sur une plaquette semi-conductrice. C'est un outil idéal pour mesurer rapidement des structures et des composants complexes.