Occasion KLA / TENCOR Alpha Step D-100 #293607100 à vendre en France

ID: 293607100
Stylus profilometer.
KLA/TENCOR Alpha Step D-100 est un équipement d'essai et de métrologie haute performance conçu pour la production de semi-conducteurs et le développement de nanotechnologies. Le système est capable d'inspection optique 2D et de métrologie pour une variété de types d'échantillons au niveau de résolution de 100nm. L'unité est équipée d'un étage XY de précision avec une précision de positionnement de 5µm, permettant une imagerie haute résolution de grandes surfaces. Cette étape XY est complétée par une plate-forme motorisée à basculement/rotation 5 axes avancée, permettant l'examen détaillé de nanostructures complexes. La machine comprend la technologie propriétaire de test de plaquettes laser à rayons X, permettant une imagerie précise des matériaux inorganiques et organiques. Cette technologie repose sur l'analyse des atomes émis lors du tir des rayons X sur le matériau échantillonné, qui sont ensuite analysés pour produire une image de l'échantillon. KLA Alpha Step D-100 comprend un large éventail d'outils d'imagerie, tels que la topographie de surface et l'analyse des défauts. Cet outil a la capacité d'évaluer la texture de surface, les défauts de surface et d'autres géométries avec un grossissement allant jusqu'à 2000x. Ces images peuvent être utilisées pour l'analyse de défauts et pour des mesures précises de caractéristiques sub-microns. L'actif est également équipé d'une station de métrologie numérique 4 ports. Cette station dispose d'échelles linéaires haute performance et haute précision qui sont capables de mesurer à la fois des caractéristiques droites et courbes. Cette station dispose également d'une sonde numérique haute précision, qui réduit considérablement le temps de traitement des données en intégrant le transfert automatique de données entre les coordonnées mesurées et l'ordinateur central. Enfin, TENCOR Alpha Step D-100 dispose également d'une suite d'outils logiciels pour l'analyse et le reporting de données. Cette suite logicielle est conçue pour un large éventail d'applications, y compris l'inspection sur place, le développement de processus et les tests de produits finaux. Cela offre la souplesse nécessaire pour générer des rapports détaillés avec la plus grande précision possible et permet une analyse personnalisée des données. En résumé, Alpha Step D-100 est un modèle avancé d'essai de plaquettes et de métrologie capable d'imagerie rapide et précise des matériaux au niveau du nanomètre. Ce matériel comprend la technologie propriétaire des rayons X, un large éventail d'outils d'imagerie et une station de métrologie numérique à 4 ports, ainsi que des outils logiciels pour l'analyse des données et l'établissement de rapports.
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