Occasion KLA / TENCOR Alpha Step IQ #9135156 à vendre en France

ID: 9135156
Style Vintage: 2011
Profilometer, 2011 vintage.
KLA/TENCOR Alpha Step IQ est un équipement avancé d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour la surveillance et l'analyse de processus dans la fabrication de semi-conducteurs. Il combine l'imagerie optique avec plusieurs capteurs pour identifier et mesurer rapidement une variété de défauts sur les plaquettes aux noeuds critiques de fabrication. Le système KLA Alpha Step IQ intègre des composants matériels et logiciels en un seul paquet, offrant des capacités d'analyse complètes pour les grands lots de production à haut débit. L'unité comprend une plate-forme de manutention automatisée qui transporte et sécurise les plaquettes en place, un réseau de capteurs optiques qui capture les images de défauts à analyser, et un boîtier électronique intégré pour contrôler les fonctions de la machine. TENCOR ALPHASTEP IQ est équipé d'une sélection d'algorithmes avancés de traitement d'image, qui permettent la détection et la classification entièrement automatisées des défauts bidimensionnels sur une plaquette. L'outil peut identifier des irrégularités paramétriques telles que l'instabilité de la hauteur du pas sur la plaquette, les erreurs de dimension critique (CD) et le manque d'uniformité. Il classe également les caractéristiques sur plaquettes et calcule la probabilité de défaillance (POF) pour les pièces testées. TENCOR Alpha Step IQ offre également les capacités de surveillance de la production nécessaires à la fabrication moderne de semi-conducteurs. Il peut être intégré avec la rétroaction des défauts en temps réel et peut surveiller la performance d'un processus en temps réel, fournissant des informations sur la stabilité du processus à travers les noeuds de processus. Grâce à cette capacité, l'actif peut contribuer à garantir une qualité optimale du produit d'une plaquette à l'autre, réduisant les coûts de production et augmentant les rendements. Dans l'ensemble, le modèle Alpha Step IQ est un outil précieux pour la fabrication moderne de semi-conducteurs, offrant aux fabricants des capacités de pointe pour le criblage des défauts, la surveillance des processus et la métrologie. Il représente une solution puissante pour optimiser les coûts de production, le contrôle des processus et le rendement.
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