Occasion KLA / TENCOR C2C/FT #9409302 à vendre en France

KLA C2C/FT est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie qui fournit une imagerie haute résolution et une mesure précise des paramètres pour l'inspection des plaquettes semi-conductrices et photovoltaïques. Il dispose d'une plate-forme configurable qui prend en charge un large éventail de technologies de processus et est conçu pour améliorer l'analyse de rendement 3D. Le système est capable d'utiliser plusieurs modes d'imagerie tels que le champ lumineux/champ sombre, la spectroscopie et la microscopie pour capturer des images et obtenir des mesures précises. Il fournit également le placement et la catégorisation automatisés des défauts, la détection des défauts au niveau des particules, la comparaison entre les plaques et plus encore. Sa technologie brevetée d'imagerie spectrale élimine le besoin de filtres fluorescents et peut détecter avec précision des paramètres pour l'inspection de la filière et/ou du circuit tels que les cellules photovoltaïques et les composants connexes. L'unité C2C/FT dispose d'un étage de précision haute performance avec une technologie d'étouffement du faisceau en mode zone adaptative qui permet un balayage et un étalonnage rapides en vol, ce qui aide à améliorer les niveaux de débit. Un examen des défauts en temps réel entièrement intégré permet une analyse en temps réel et une caractérisation des défauts perspicace. Les capacités avancées d'intelligence artificielle de la machine facilitent la métrologie précise et le contrôle automatisé des processus. En outre, l'outil offre un outil intégré Smart Process Monitoring & Control qui fournit des diagnostics en temps réel, la métrologie des processus, l'extraction et l'analyse de données. Il dispose d'une architecture multiplexée et d'une imagerie multi-spectrale/sous-marine pour garantir des données exactes et fiables avec des temps d'exécution rapides. Le modèle peut fonctionner dans des environnements fabless et est idéal pour un large éventail de processus tels que la lithographie optique et semi-conductrice avancée, CMP, polissage et la réduction avancée des défauts. Dans l'ensemble, TENCOR C2C/FT est un équipement avancé d'essai de plaquettes et de métrologie qui fournit l'imagerie, la mesure des paramètres et la caractérisation des défauts pour les plaquettes semi-conductrices et photovoltaïques. Sa plate-forme configurable et ses capacités hautes performances sont idéales pour réduire les niveaux de défauts et optimiser le contrôle des processus.