Occasion KLA / TENCOR Candela 8600 #9311388 à vendre en France

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ID: 9311388
Taille de la plaquette: 8"
Film thickness system, 8".
KLA/TENCOR Candela 8600 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour des applications de fabrication de semi-conducteurs. Le système utilise une unité optique avancée pour permettre des mesures à haute résolution et à grande vitesse. Il est capable de détecter et de classer rapidement les défauts sur les surfaces avant et arrière des plaquettes. La machine dispose d'un étage de plaquettes à 10 axes, commandé par ordinateur pour gérer une large gamme de diamètres et de types de plaquettes. Il est équipé d'une caméra haute résolution (2,3 mégapixels) qui permet le balayage aréolaire des plaquettes avec une résolution allant jusqu'à 400 x 400 nm. La vitesse d'inspection est réglable de lente à ultra-rapide et les mesures sont fournies avec une grande précision et répétabilité. KLA Candela 8600 est actionné par KLA le processeur de reflétant de C8T ultra-rapide qui est capable de combiner la microscopie dans la ligne de 4 dimensions, la grille métallique reflétante et la technologie de faisceau d'électrons. Cela permet à l'outil de détecter et classer les défauts à des vitesses incroyables. Les algorithmes d'imagerie avancés utilisés par le processeur C8T permettent également une large gamme d'outils d'analyse automatisés et manuels, y compris la cartographie de la hauteur des défauts, l'analyse morphologique en deux dimensions et les tests électriques traditionnels. L'actif peut être interfacé avec d'autres systèmes de métrologie TENCOR afin de fournir une solution complète de test et d'inspection des plaquettes de bout en bout. Il dispose également d'une interface utilisateur intuitive pour la commodité de l'opérateur et un flux de travail simplifié. En outre, le modèle offre une large gamme de fonctionnalités avancées d'optique et d'imagerie. Ceux-ci comprennent des algorithmes automatisés de reconnaissance des défauts, un moniteur de plage de profondeur de champ lumineux, et la capacité de stocker et d'analyser jusqu'à 60 gigapixels images à tout moment. L'équipement offre également une couverture d'échantillon impressionnante (jusqu'à 5 pouces) qui le rend idéal pour l'inspection des plaquettes semi-conductrices, cellules solaires et autres grands substrats. Dans l'ensemble, le système d'essai et de métrologie TENCOR Candela 8600 est un outil impressionnant pour l'inspection et l'analyse de la fabrication des semi-conducteurs. Il est équipé d'un processeur puissant, d'une unité optique avancée et d'une interface conviviale, et fournit des mesures très précises et reproductibles à une vitesse impressionnante.
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