Occasion KLA / TENCOR Candela C2 #9277067 à vendre en France

ID: 9277067
Defect inspection system.
KLA/TENCOR Candela C2 est un équipement avancé d'essai et de métrologie des plaquettes qui combine les capacités de balayage, d'essai et d'inspection des plaquettes et d'imagerie dans une plate-forme intégrée. Le système Candela C2 de KLA offre des solutions de test et de mesure optimisées pour la fabrication de dispositifs semi-conducteurs. L'unité TENCOR C2 est conçue pour répondre aux exigences exigeantes de l'industrie de fabrication de dispositifs semi-conducteurs. Ses capacités de test et de métrologie de haute précision garantissent une caractérisation précise et fiable des caractéristiques des plaquettes telles que les propriétés électriques et optiques, la densité des défauts et la topographie. Il est composé d'un manipulateur automatisé, d'un distributeur automatisé de plaquettes, d'un microscope optique et d'un microscope électronique à balayage, qui sont tous capables d'effectuer des mesures de haute précision dans diverses applications de plaquettes. Le distributeur automatisé de plaquettes est capable de tester jusqu'à 38 plaquettes en séquence et offre une large gamme de capacités de sondes. Le microscope optique de la machine TENCOR Candela C2 offre une capacité d'imagerie haute résolution avec cinq modes d'imagerie différents, qui peuvent être utilisés pour la cartographie des défauts et le contrôle de la qualité des processus. Le microscope électronique à balayage intégré permet une mesure précise des plaquettes jusqu'à 0,1 micron de résolution. Il comprend également un spectromètre à rayons X dispersif en énergie (EDS) qui permet à l'outil d'analyser la composition des matériaux. Enfin, l'actif est relié à un ensemble de plates-formes de métrologie telles qu'un interféromètre, un scatteromètre et un profileur de surface, qui permettent de sonder plus en détail les structures des dispositifs. C2 est réputée pour sa fiabilité et ses performances élevées, ainsi que pour sa capacité à s'adapter aux exigences changeantes en matière d'essais et de métrologie. Il bénéficie également de plusieurs fonctionnalités telles que le suivi des plaquettes de code-barres, le traitement automatisé des données et l'accès à distance, permettant aux utilisateurs de surveiller leurs opérations depuis n'importe quel endroit. Dans l'ensemble, le modèle KLA/TENCOR C2 est un impressionnant équipement d'essai et de métrologie tout-en-un qui peut caractériser avec précision et fiabilité les caractéristiques des plaquettes. Sa conception intégrée, sa haute précision et son large éventail de capacités de test et de métrologie en font un choix idéal pour les fabricants de dispositifs semi-conducteurs.
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