Occasion KLA / TENCOR Candela CS10 #293816146 à vendre en France

KLA/TENCOR Candela CS10 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie. Il est conçu pour fournir une métrologie précise permettant un contrôle fiable de la qualité des plaquettes pour divers procédés de fabrication de semi-conducteurs. Le système utilise une combinaison unique de composants matériels et logiciels qui lui permettent de mesurer rapidement et avec précision la largeur, l'épaisseur, le déplacement, la finition de surface et d'autres propriétés. L'unité dispose d'une tête optique et d'un microscope optique puissant pour mesurer plusieurs paramètres avec un seul balayage. La tête optique est composée de lentilles, de filtres, de composants optiques et de sources d'éclairage pour fournir une imagerie haute résolution et des mesures répétables précises. De plus, un contrôleur de balayage à grande vitesse est inclus pour mesurer avec précision la valeur et la position avec une résolution allant jusqu'à 10µm. KLA CANDELA CS-10 est également équipée d'un logiciel de contrôle de qualité automatisé pour surveiller chaque plaquette scannée. Ce logiciel est capable de détecter des niveaux anormaux de caractéristiques de surface en analysant les informations spectrales générées par la tête optique de la machine. Il fournit également des mesures précises de l'épaisseur de la plaquette pour le contrôle couche par couche. L'outil est équipé d'une interface utilisateur intuitive et d'un écran tactile permettant de simplifier le fonctionnement de l'actif. Cette interface conviviale combine des touches souples, des capacités de glisser-déposer et des commandes à clé chaude pour simplifier et accélérer le processus de test. L'écran fournit également une rétroaction visuelle à travers des images en direct de chaque plaquette pour permettre aux opérateurs d'évaluer rapidement l'état de la plaquette. Dans l'ensemble, TENCOR CANDELA CS 10 est un modèle puissant et fiable d'essai de plaquettes et de métrologie. Il permet un contrôle précis de la qualité des plaquettes pour plusieurs processus de fabrication de semi-conducteurs en utilisant sa combinaison unique de composants matériels et logiciels. Cet équipement est adapté à tout environnement de production de semi-conducteurs qui nécessite un balayage simultané de caractéristiques multiples avec une grande précision et répétabilité.