Occasion KLA / TENCOR Candela CS10 #9186184 à vendre en France

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ID: 9186184
Style Vintage: 2012
Optical surface analyzer Dual-laser optical X-Beam technology (2) Laser paths / (4) Independent wafer surface detection techniques Particle sensitivity on polished silicon wafers: <0.08 Micron Exceptional sensitivity to micro scratches: Automatic wafer surface inspection Defect detection / Classification: 2"-12" Transparent and opaque wafers Kit, 6" Software version: 6.8 2012 vintage.
KLA/TENCOR Le matériel d'essai et de métrologie des plaquettes Candela CS10 utilise une technologie d'imagerie et de métrologie de pointe pour inspecter les plaquettes avant qu'elles ne soient utilisées pour la fabrication d'appareils électroniques. Ce système utilise des étages d'articulation à 5 axes pour appuyer l'inspection complète des plaquettes avec des zones de chargement et de déchargement confinées. Le CS10 a un nouveau chemin de faisceau horizontal, qui réduit l'empreinte d'un opérateur tout en fournissant des champs de vision améliorés pour améliorer la détection globale des défauts. Son unité d'optique avancée utilise des capacités de scan étape pour scanner des échantillons plats spécialement réfractifs avec une focalisation et une résolution inégalées. Il dispose également 3k x 2k résolution de capture d'image et avancé Image Upscaling technologie qui assure des images encore plus vives. Le CS10 est configuré avec les dernières technologies d'imagerie et de métrologie, offrant plusieurs configurations de capteurs et d'analyses dans un seul instrument. Il est calibré et capable de mesurer une large gamme de niveaux de signaux de 0,1nm à 80um et d'évaluer une variété de matériaux de diverses épaisseurs, par exemple des structures de dispositifs à haut rapport d'aspect et des plaquettes amincies. Le CS10 est compatible avec divers procédés chimiques et une vaste bibliothèque d'algorithmes de mesure automatisés. Il dispose de technologies adaptatives aux matériaux pour traiter divers types de plaquettes, ainsi que des formes et des tailles de plaquettes allant de 200 à 800 millimètres. Le CS10 offre de nombreuses options pour la recherche de plaquettes, des mesures optiques sans contact aux sondes sans contact, telles que les micro-imageurs acoustiques, le courant de Foucault, la cartographie du déplacement laser et la métrologie des défauts. Il est intégré à une suite d'outils de métrologie pour la métrologie des défauts et l'analyse de contrôle des processus semi-conducteurs. Le CS10 est également suffisamment flexible pour être installé dans un environnement de production existant sans besoin de câblage spécial, et ses capacités avancées de gestion des données permettent un stockage sécurisé des données des clients et une sécurité de machine serrée. Il est fiable et facile à utiliser, avec une formation complète de l'opérateur et un soutien technique disponible. Dans l'ensemble, KLA CANDELA CS-10 est un outil fiable et polyvalent d'essai et de métrologie de plaquettes qui fournit la technologie d'imagerie et de métrologie la plus récente pour assurer une inspection de haute qualité et précise de divers types et tailles de plaquettes. C'est une solution précieuse pour les fabricants de dispositifs électroniques qui exigent une détection rapide et précise des défauts d'une manière rentable.
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