Occasion KLA / TENCOR Candela CS10 #9410414 à vendre en France

ID: 9410414
Surface inspection system.
KLA/TENCOR Candela CS10 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour offrir les meilleures performances et précision dans l'inspection et la fabrication des semi-conducteurs. Le système comprend plusieurs capteurs, un microscope optique et un processeur d'image pour fournir des images détaillées et des mesures de plaquettes et d'autres matériaux semi-conducteurs. KLA CANDELA CS-10 est capable de collecter et d'analyser les données des plaquettes jusqu'à 200 mm de diamètre. Au cœur de l'unité se trouve un ensemble de capteurs avec quatre interféromètres laser sélectifs spectralement et deux caméras CCD. Chaque capteur, ainsi qu'un étage mécanique unique, est utilisé pour capturer et analyser les données spectrales de la plaquette. En outre, la machine comprend également un module de microscope avec un zoom optique 5x, un champ de vision pouvant atteindre vingt-quatre micromètres, et une gamme de revêtements de lentilles pour l'imagerie précise. Le module microscope dispose d'un directeur de faisceau intégré pour les mesures Photon Transfer, permettant des mesures de surface précises et l'imagerie. Un processeur d'image puissant combine des données optiques et spectrales pour fournir des images haute résolution et des mesures des caractéristiques de surface de la plaquette. TENCOR CANDELA CS 10 fournit un ensemble complet d'outils et de données pour assurer le contrôle de la qualité dans les essais et la fabrication des plaquettes. Les capteurs et le processeur d'image de l'outil mesurent avec précision les dimensions et la qualité de surface de la plaquette. Il peut également détecter des défauts et d'autres caractéristiques des plaquettes, telles que des fissures et des rayures. De plus, TENCOR Candela CS10 offre des capacités complètes d'analyse de données et de rapports pour assurer le maintien de la qualité des produits. Dans l'ensemble, CANDELA CS 10 est un atout avancé pour l'essai de plaquettes et la métrologie qui offre une grande précision et performance. Avec plusieurs capteurs et un processeur d'image avancé, le modèle est capable de fournir des images détaillées et des mesures de plaquettes et d'autres matériaux semi-conducteurs. De plus, la capacité complète d'analyse des données et de déclaration de l'équipement assure le maintien de la qualité du produit.
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