Occasion KLA / TENCOR D6 #9249608 à vendre en France

KLA/TENCOR D6 wafer testing and metrology equipment est un outil automatisé précis d'inspection du contenu et de métrologie conçu pour répondre aux exigences de précision et de débit des processus de sous-5nm et de prochaine génération. Il est équipé d'une optique avancée, d'algorithmes avancés et de contrôles automatisés - tous construits sur une plate-forme de précision qui permet des mesures rapides et précises sur des plaquettes semi-conductrices à motifs. KLA D6 répond à toutes les exigences pour les nœuds avancés, en particulier pour les sous-5nm et au-delà. C'est le testeur de plaquettes le plus avancé de KLA sur le marché en ce moment, et peut mesurer les structures et les défauts à l'échelle nanométrique avec une précision extrêmement fine. Le système offre également des capacités sophistiquées de métrologie latérale, qui peuvent aider à détecter et mesurer une variété de caractéristiques telles que la précision de superposition, ligne rouge, taille d'ouverture, vias lithographiques, résister à l'ouverture, etc. Pour le traitement et le débit, l'unité dispose d'une tête de balayage multi-faisceaux avec une cadence de tête rapide, et utilise des algorithmes et des optiques avancés pour assurer une plus grande précision et une mesure plus rapide. La machine est également équipée d'un indexeur de plaquettes entièrement automatisé pour accélérer le chargement et le déchargement des échantillons. Il dispose également d'un outil de détection performant, et utilise des algorithmes sophistiqués pour quantifier des éléments tels que des largeurs de lignes critiques, des largeurs de résistance, des profils de résistance, etc. L'actif offre des capacités d'intégration et d'analyse de données telles que la création, l'analyse et l'édition de recettes, des capacités de rapport pour la visualisation et l'impression de résultats, ainsi qu'une variété d'outils logiciels de soutien pour l'analyse de données, comme WTM (Wafer Test Matrix) pour atteindre des mesures précises avec un biais minimal. Dans l'ensemble, le modèle TENCOR D6 d'essai de plaquettes et de métrologie fournit la précision et le débit de pointe de l'industrie pour les procédés de sous-5nm et au-delà, et a été conçu pour répondre aux besoins des environnements de production les plus exigeants.