Occasion KLA / TENCOR Flexus F2418 #9375031 à vendre en France
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ID: 9375031
Style Vintage: 1992
System, parts machine
Wafer flatness gauge
Control PC missing
1992 vintage.
KLA/TENCOR Flexus F2418 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie utilisé pour diverses applications, y compris la caractérisation des appareils IC, l'inspection des défauts au niveau de la matrice et la surveillance au niveau de la plaquette. Il est capable d'inspecter et de mesurer des plaquettes de silicium jusqu'à 200mm. KLA Flexus F2418 est conçu pour augmenter l'efficacité et la précision du processus de fabrication. Le système est optimisé pour des tests parallèles sur plusieurs objectifs, balayant simultanément jusqu'à quatre matrices à la fois. Il utilise à la fois les formats d'imagerie optique et électronique pour l'inspection des défauts, et fournit un débit d'inspection extrêmement rapide et non destructif pour tester des plaquettes de haut volume et de faible valeur. Le F2418 a une conception modulaire, permettant la personnalisation et l'expansion du client, un plus grand débit à partir de la mesure à plus haut volume au niveau des plaquettes à la volée, et une capacité d'inspection avancée pour détecter de petites anomalies à des grossissements élevés. Il comprend également plusieurs canaux de mesure, qui sont personnalisables pour répondre à divers besoins de mesure pour des tests plus rapides et plus précis. TENCOR Flexus F2418 dispose également d'une unité optique à plus haute résolution pour la détection et l'analyse des défauts. Cela inclut les optiques à grossissement variable, allant de basse (1X) à haute (64X), permettant l'imagerie haute résolution de petites tailles de matrice jusqu'à 8 microns. Le calculateur de positionnement de la sonde assure une précision de mesure plus élevée et un alignement plus précis des aiguilles et des plateaux de position de la sonde par rapport à l'échantillon pour un test plus fiable. Le F2418 a des capacités analytiques avancées, avec une gamme de programmes de mesure qui sont optimisés pour les mesures au niveau de la plaquette, les cycles de mesure progressifs, la détermination de la planéité, la détermination du film épais et d'autres besoins de marquage et de caractérisation des défauts. Il comprend également des algorithmes de traitement d'image et d'appariement de motifs de données conçus pour détecter avec précision et rapidement les anomalies des défauts de la minuscule. La machine est également équipée d'une suite d'outils intégrée appelée la boîte à outils de métrologie, qui offre un large ensemble de mesures pour automatiser la métrologie au niveau des plaquettes. Cet outil est conçu pour simplifier les étapes nécessaires à l'évaluation des plaquettes sur plusieurs gammes de produits, permettant des cycles plus courts et une prise de décision plus intelligente. Flexus F2418 est un actif avancé d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour réduire le temps de cycle et augmenter le débit pour des mesures à haut volume de plaquettes. Avec une optique optimisée, des systèmes d'imagerie haute résolution et des capacités analytiques avancées, c'est un choix idéal pour la fabrication de dispositifs de circuits intégrés et d'autres produits de haute valeur dans l'industrie des semi-conducteurs.
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